葉先生
當前位置:上海雨萌實業有限公司>>美國哈希旗下品牌儀器>>XOS>> Signal 實驗室硅含量元素分析儀
- 測量原理:
單色波長色散X射線熒光 (MWD XRF) 技術采用的聚焦單色反射鏡,提高了激發光的強度,與非聚焦和單色光WDXRF技術相比,改善了信噪比以及檢測極限和精確度,降低了儀器對基體效應的敏感度。測量過程中,來自塊反射鏡的單色聚焦光束打在樣品上,激發樣品發射出特征熒光X射線。第二塊單色反射鏡篩選出硅的特征X射線,并將其反射聚焦到探測器上。MWD XRF是一種直接測量技術,不需要輔助氣體或樣品轉化。
- 應用領域:
? 石油和生物燃料中的總硅含量分析
? 適用于煉油廠、管道終端、添加劑廠和檢驗實驗室
- 儀器特點:
1)符合ASTM D7757 和NB/SH/T 0993
2)檢測極限(LOD):0.65 ppm wt.
3)動態范圍:0.65 ppm wt.到3000 ppm wt.
4)即插即用:使用普通電源
5)觸摸式用戶界面
6)用戶可選擇測量時間:30-900s
7)75W風冷式X光管
8)無需轉換氣體、加熱元件、石英管或管柱
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