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深圳市京都玉崎電子有限公司
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- www.sekonic.cn
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- www.tamasaki.com
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產品簡介
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,能源,電子/電池,制藥/生物制藥,綜合 |
|---|
可對應近紅外線/短波紅外線波長區的光源箱
●可照射NIR（近紅外線波長740nm至1000nm）及SWIR（短波紅外線波長1000nm至1700nm）區域的光源箱
●使用近紅外線/短波紅外光可以實現可見光難以成像的同色異物識別和包裝印刷材料的透射成像
●SWIR光用于利用硅的穿透性和水的波長吸收特性的檢查
拍攝影像需要使用InGaAs感光元件相機
產品介紹
AITEC/艾泰克 光源BOX
AITEC/艾泰克 光源BOX
可對應近紅外線/短波紅外線波長區的光源箱
●可照射NIR（近紅外線波長740nm至1000nm）及SWIR（短波紅外線波長1000nm至1700nm）區域的光源箱
●使用近紅外線/短波紅外光可以實現可見光難以成像的同色異物識別和包裝印刷材料的透射成像
●SWIR光用于利用硅的穿透性和水的波長吸收特性的檢查
※ 拍攝影像需要使用InGaAs感光元件相機
NIR/SWIR光源BOX LLBKC-NIR/SWIR Series，是一款專門針對近紅外線與短波紅外線波長區域設計的光源箱，能夠穩定輸出特定波長的紅外光，突破可見光成像的局限，適配特殊材質與隱蔽缺陷的檢測需求，廣泛應用于同色異物識別、包裝印刷材料透射檢測、硅材質檢測等場景，為特殊波長檢測提供專業的光源解決方案。
該系列的核心特性是可穩定照射NIR與SWIR兩個波長區域的光線，其中NIR（近紅外線）波長范圍為740nm至1000nm，SWIR（短波紅外線）波長范圍為1000nm至1700nm，兩種波長可根據檢測需求靈活切換，覆蓋不同場景的紅外檢測需求，為特殊材質與隱蔽缺陷的識別提供充足的光線支持。
相比可見光照明，該系列的近紅外線與短波紅外光具備獨特的成像優勢，能夠實現可見光難以完成的檢測任務。其中，近紅外線與短波紅外光可用于同色異物識別，能夠清晰區分顏色相同但材質不同的異物，解決傳統可見光下同色異物難以識別的難題；同時可實現包裝印刷材料的透射成像，清晰呈現包裝內部結構與印刷層細節，適用于包裝完整性、印刷質量等檢測場景。
SWIR光的獨特特性使其特別適用于利用硅的穿透性和水的波長吸收特性的檢測場景。例如，在半導體行業中，可通過SWIR光的穿透性檢測硅片內部缺陷；在食品、醫療行業中，可利用水的波長吸收特性，檢測產品中的水分分布、水分含量等指標，為產品質量管控提供精準依據。
需要注意的是，該系列光源箱的拍攝影像需要搭配InGaAs感光元件相機使用，InGaAs感光元件能夠有效捕捉近紅外線與短波紅外線的光線信息，確保成像清晰、細節完整，充分發揮該光源箱的檢測優勢，避免因相機感光元件不匹配導致的成像模糊、檢測偏差等問題。
整體來看，LLBKC-NIR/SWIR Series以雙紅外波長輸出、突破可見光檢測局限、適配特殊材質檢測為核心優勢，專為近紅外與短波紅外檢測場景打造。憑借穩定的波長輸出、獨特的成像優勢，能夠幫助企業解決傳統照明無法完成的檢測難題，為特殊行業的高精度檢測提供專業、可靠的紅外光源支持。
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