日本T-DYLEC掃描型納米顆粒粒徑分布測量儀器3938E57的操作應用
TSI的SMPS™被廣泛用作確定小于1微米氣溶膠顆粒粒徑分布的標準。 SMPS型號3938E57主要產品包括1納米CPC型號3757-50和1納米DMA型號3086,能夠測量從1納米以下的顆粒尺寸分布。
通過在近期的SMPS基礎上加入Model 3757納米增強器和Model 3086差分遷移分析儀(1 nm-DMA),SMPS的可測量范圍已擴展至僅1納米。

特色
高分辨率數據:每十年64個通道(109個通道,顆粒粒徑分布為1~50納米)
靈活元件設計
測量顆粒尺寸范圍較寬:可測量范圍為1~50納米
加入3081A長DMA,其波長可測量3個十年,范圍為1納米至1000納米。
擴散損耗的較優系統
可通過專用軟件Aerosol Instrument Manager(AIM)操作
顆粒測量:能夠測量各種樣品
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供,信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責,化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示:為規避購買風險,建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。