小型臺式食品水分測定儀依托鹵素烘干減重法原理，適用于糕點(diǎn)、肉制品、干貨、糧油等各類食品含水率檢測。臺式機(jī)身穩(wěn)固，搭載高精度稱重傳感與智能溫控系統(tǒng)，升溫均勻，快速烘干試樣。操作簡便，自動測算水分值，數(shù)據(jù)直觀顯示，廣泛用于食品實(shí)驗(yàn)室、生產(chǎn)質(zhì)檢、研發(fā)小樣檢測，滿足原料入庫及成品抽檢需求。

一、適用場景

該臺式水分儀體積緊湊、放置靈活，主要面向食品全產(chǎn)業(yè)鏈質(zhì)檢與研發(fā)檢測。食品生產(chǎn)車間質(zhì)檢工位可用于面粉、淀粉、肉制品、蜜餞、糕點(diǎn)等原輔材料進(jìn)廠驗(yàn)收，把控原料含水率，避免受潮原料影響成品品質(zhì)。食品研發(fā)實(shí)驗(yàn)室用于新品配方調(diào)試，檢測餅干、膨化食品、醬料、干貨在不同工藝下的水分變化，優(yōu)化烘烤、腌制工藝參數(shù)。第三方食品檢測機(jī)構(gòu)針對批量送檢樣品做快速篩查，替代耗時的國標(biāo)烘箱法初檢。農(nóng)副加工合作社用于堅(jiān)果、果干、雜糧干貨加工前后水分管控，防止倉儲發(fā)霉變質(zhì)。此外，院校食品專業(yè)實(shí)驗(yàn)室、食品監(jiān)管抽檢單位也常使用，完成教學(xué)實(shí)驗(yàn)與抽樣合規(guī)檢測，適配固態(tài)、膏狀、顆粒狀絕大多數(shù)食品試樣。

二、技術(shù)規(guī)格

稱量范圍：300g、150g、120g、100g、50g（多規(guī)格可選）

稱量顯示分度值：0.01g、0.005g、0.001g、0.0001g

水分分辨率：0.2%、0.1%、0.01%、0.001%

屏幕配置：LCD液晶屏、7英寸觸控屏、5英寸觸控屏、4.3英寸觸控屏

稱重傳感器類型：電磁力傳感器、進(jìn)口HBM傳感器、國產(chǎn)傳感器

加熱溫度區(qū)間：50℃–200℃、50℃–180℃、50℃–160℃

烘干模式：溫和模式、快速模式、標(biāo)準(zhǔn)模式

終止方式：定時停止、自動判斷停止、手動停止

溫度控制偏差：±1℃

定時范圍：99分鐘至1分鐘（1–99分鐘可設(shè)）

可測干燥指標(biāo)：固含量、水分值、回潮率、初始稱重、失重量、實(shí)時溫度、實(shí)時重量、干燥曲線圖

樣品盤規(guī)格：Φ100mm不銹鋼盤、Φ100mm鋁盤

打印機(jī)支持：內(nèi)置（標(biāo)配）、外接（選配）

外部通訊端口：USB接口、RS232打印接口

數(shù)據(jù)存儲能力：500條 / 100條（選配U盤后可無限擴(kuò)展）

審計(jì)追蹤記錄：2000條（支持U盤擴(kuò)展存儲）

樣品庫能力：系統(tǒng)預(yù)置樣品庫10條、用戶自定義樣品庫100條

語音提示功能：語音助手全程播報測試流程

三、實(shí)驗(yàn)原理

儀器依據(jù)國標(biāo)烘干減重法原理，即樣品水分含量 =（烘干前重量 - 烘干后恒重重量）÷ 樣品原重 。利用鹵素?zé)艄墚a(chǎn)生集中熱輻射，快速蒸發(fā)樣品內(nèi)部自由水與表層結(jié)合水，在可控溫度下僅去除水分、不分解食品有機(jī)質(zhì)。儀器內(nèi)置高精度稱重傳感器，全程實(shí)時稱重，隨著水分不斷揮發(fā)，樣品質(zhì)量持續(xù)下降，當(dāng)連續(xù)兩次稱重?cái)?shù)值無明顯變化即判定恒重。主控芯片自動記錄烘干前后重量差值，換算出含水率數(shù)值。設(shè)備搭載溫度防護(hù)程序，針對高糖、高脂易焦化食品分段控溫，減少有機(jī)質(zhì)高溫分解造成的數(shù)據(jù)誤差，相比傳統(tǒng)電熱烘箱，大幅縮短檢測時長，兼顧檢測精準(zhǔn)度與檢測效率，符合食品行業(yè)快速質(zhì)檢標(biāo)準(zhǔn)。

四、操作步驟

小型臺式食品水分測定儀開機(jī)預(yù)熱，將稱量鋁盤放置于儀器稱重托架，執(zhí)行去皮清零操作。

選取待測食品樣品，顆粒、塊狀樣品粉碎處理，膏體樣品攪拌均勻，稱取 3～5g 試樣平鋪在鋁盤內(nèi)，保證樣品薄厚均勻，受熱一致。

合上加熱上蓋，根據(jù)樣品品類設(shè)定烘干溫度，膨化食品、含糖糕點(diǎn)選用低溫模式，干貨、谷物選用常規(guī)溫控。

啟動檢測程序，鹵素?zé)糸_始加熱烘干，儀器實(shí)時采集重量數(shù)據(jù)。

烘干至樣品恒重，設(shè)備自動停止加熱，屏幕直接顯示水分百分比、干重等數(shù)據(jù)，記錄檢測結(jié)果。

待腔體降溫后清理鋁盤殘?jiān)瑴?zhǔn)備下一組平行試樣檢測。