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當前位置：日崎國際貿易（成都）有限公司>>三高 Sanko>>涂層測厚儀>> SM-Pen日崎 三高 Sanko 涂層測厚儀
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 5千-1萬 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環保,建材/家具,道路/軌道/船舶,制藥/生物制藥,綜合 |
日崎 三高 Sanko 涂層測厚儀 日崎 三高 Sanko 涂層測厚儀
在電子元器件、微型軸承底座或結構復雜的微縮模具加工中，涂料或鍍層同樣需要嚴密的厚度把控。面對這類微小零件或者僅有幾毫米寬度的凹槽，常規工業測厚探頭因體積干涉根本無法觸及涂層表面。本款 SM-Pen 測厚儀革新了傳統探頭的外觀設計，以類似圓珠筆的形態介入精細化測量作業。
【筆式工學握持與極細磁極】探測模塊的外殼被設計成長約 130mm、直徑 11mm 的筆桿狀結構，操作者可以像握持書寫工具一樣精確控制探頭的落點，大大提升了對準細小零件的操控感。其核心在于前端凸出的探測磁極經過了深度微縮與硬化處理，直徑壓縮至 φ2.6 毫米，長度達 4.5 毫米。這種如同探針般的結構，能夠輕松插入細窄的縫隙或落入微小的盲孔中進行厚度判定。
【雙列模擬刻度與緊湊機身】考慮到微小零部件表面的涂裝可能涵蓋電鍍薄膜與較厚的絕緣樹脂，主機面板劃分了兩條并行的測量刻度區（0～300μm 及 0～5mm），兼顧了高解析度與寬量程的需求。為了匹配探頭的靈活性，主機本身的尺寸也維持在十分小巧的規格，重量僅為 500 克，并配有撥盤保護罩，是質檢實驗室內處理疑難微小工件的有效補充工具。
【主要技術規格參數表】
生產供應方式：特殊訂單式生產（受注生產）
測量原理：電磁感應式（模擬表盤顯示）
探測構型：鋼筆式（Pen-type）微縮接觸探頭
測量范圍（刻度一）：0 ～ 300 μm
測量范圍（刻度二）：0 ～ 5 mm
測量精度：均一平面上 ±2μm 或 指示值的 ±5%
筆式探桿外圍尺寸：直徑 φ11 × 長度 130 mm
極細接觸磁極規格：直徑 φ2.6 × 長度 4.5 mm (CVD超耐磨處理)
主供電系統：7號（AAA）干電池 × 6節
外觀物理尺寸：105(W) × 48(H) × 165(D) mm（主機部分）
設備整體重量：約 500 g
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