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當(dāng)前位置：玉崎科學(xué)儀器（深圳）有限公司>>OTSUKA大塚電子>> nanoSAQLA日本代理OTSUKA大塚電子納米粒子徑測試系統(tǒng)
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號nanoSAQLA
品 牌OTSUKA/大塚電子
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地深圳市
更新時間：2026-07-27 16:45:19瀏覽次數(shù)：8次
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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 分散方式 | 干法分散 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 60萬-80萬 | 儀器種類 | 動態(tài)光散射 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,綜合,半導(dǎo)體 |
日本代理OTSUKA大塚電子納米粒子徑測試系統(tǒng)
日本代理OTSUKA大塚電子納米粒子徑測試系統(tǒng)
大塚 nanoSAQLA 是一款采用動態(tài)光散射法（DLS）的高效納米粒子徑測試系統(tǒng)，支持多樣品連續(xù)自動檢測、廣泛濃度范圍測量以及輕量化小型設(shè)計，是一款非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動取樣器、標(biāo)準(zhǔn)配備“5檢體連續(xù)測量"的新產(chǎn)品。
特長
● 1臺便可實再5個樣品的連續(xù)測量
實現(xiàn)了在沒有自動取樣器的情況下難以連續(xù)測量的多個樣品
可以改變每個樣品的條件進行測量
● 可以對應(yīng)從稀薄到濃厚的樣品
● 標(biāo)準(zhǔn)測量時間1分的高度測量
自動調(diào)整從濃厚系到稀薄系樣品的最佳測量位置，實現(xiàn)約1分鐘的高速測量
● 配備簡單測量功能(點擊一鍵即可開始測量)
沒有任何復(fù)雜的操作，簡單易懂的軟件
● 因為每個樣品槽都是獨立的，沒有接觸污染的風(fēng)險。
● 搭載溫度梯度功能
測量范圍（理論值）
● 粒徑0.6nm～10μm
● 濃度范圍 0.00001～40％
● 溫度范圍0～90℃*
多檢體奈米粒徑分析儀規(guī)格 | |
|---|---|
| 量測原理 | 動態(tài)光散射(DLS) |
| 光源 | 高輸出半導(dǎo)體雷射 |
| 檢出器 | 高感度APD |
| 自動進樣系統(tǒng) | 對應(yīng)最多5支樣品自動量測 |
| 粒徑范圍 | 粒徑顯示范圍:0.1nm~1mm 信賴保證范圍:0.6nm~10μm |
| 濃度范圍 | 0.00001 ~ 40% |
| 溫控范圍 | 0 ~ 90℃ *（具備梯度功能）*若使用拋棄式容器為0 ~ 40℃ |
| 尺寸 | 240 (W) × 480 (D) × 375 (H) mm |
| 重量 | 約18 kg |
| ISO | 符合ISO 22412:2017 |
| 軟體功能 | 平均粒徑解析(Cummulant) 粒度分布解析(Marquardt / NNLS / Contin / Unimodal) 粒度分布重疊 逆相關(guān)函數(shù)& 殘差圖表 粒徑監(jiān)控功能 粒徑顯示范圍(0.1 ~ 10^6 nm) |
測量示例
不同溶劑的5個樣品連續(xù)測量
溫度梯度機能使用的測定
可對應(yīng)寬泛粒徑的范圍的測量
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