本文介紹了使用Hellma?線性濾光片研究珀金埃爾默?高性能LAMBDA?儀器(LAMBDA 850+和1050+)測量光譜可見區域線性度的方法。Hellma?線性濾光片是由單塊“有色"玻璃切割而成,然后經拋光處理和高精度光學加工,厚度遞增,546 nm處吸光度對應增加。
使用LAMBDA 1050+在400-700 nm波長范圍內按2 nm步進掃描,狹縫寬度為5 nm,檢測器響應時間為1秒。
需要時,使用內部衰減器對參考光束進行衰減處理,從而優化參比和樣品光束強度。
LAMBDA 1050+可進行2 A和3 A自動衰減,可通過樣品室窗口上的附設磁性衰減器增強衰減效果。
對所有光譜進行100%和0%自動歸零校正掃描。
收集的光譜數據如圖1所示。

圖1.使用Hellma?濾光片(F1-F7?參見表1)在400-700 nm波長范圍內按2 nm步進進行掃描,狹縫寬度為5 nm,積分時間為1秒。參考光束的衰減值列于濾光片編號之后(點擊查看大圖)

圖2為根據濾光片厚度繪制的數據圖。采用最小二乘法執行數據的線性擬合。與線性擬合的偏差小于0.04 A。濾光片厚度公差(±10 μm)。擬合線與原點在0.036 A處相交,符合預期結果,因為本實驗不考慮濾光片兩個表面上的反射損耗。每個表面的實測反射損耗為 4%T,符合這種玻璃濾光片的預期結果。

圖2.Hellma?濾光片的濾光片厚度與實測吸光度關系圖(點擊查看大圖)
結論
采用本方法獲得了吸光度大于8 A的樣品的高質量光譜數據。數據中的吸光度線性關系非常好,與線性擬合的偏差很小(< 0.04A),這些誤差可歸因于Hellma?線性濾光片自身的厚度公差。
這些結果是用LAMBDA 1050+分光光度計測得的,LAMBDA 850+/1050+系列儀器有相同的光學結構都可以獲得相同的結果。LAMBDA 850+/1050+具有更高的光通量(光源倍增鏡)和高達3 A的內置自動衰減器,可增強高吸光度樣品測試的功能性。
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