愛德萬 Q8384 光譜分析儀采用新型四通單色儀系統，能以高波長分辨率和高精度測量和評估超高速光 DWDM 傳輸系統和光學元件。它是一款臺式設備，支持多種光纖類型，其波長測量范圍為 600nm-1700nm，波長分辨率最高可達 10pm，動態范圍寬廣，可滿足不同場景下的光信號分析需求。

核心技術指標

核心功能特點

高分辨率波長分析：10 pm 分辨率與低至 ±20 pm 的波長精度，滿足 DWDM 系統波長漂移與信道隔離度的嚴苛測試。

寬動態與高功率適配：動態范圍達 60 dB（±0.2 nm），支持 EDFA 等光放大器的高功率（+23 dBm）輸入與 NF 噪聲系數精確測量。

WDM 與 Pass/Fail 分析：內置多通道峰值檢測、OSNR 計算、門觸發測量（適配環路實驗），支持自定義極限線與合格 / 不合格判定。

校準與數據管理：可選內置校準光源（選件 25）、光頻率顯示、內置打印機與數據存儲，提升測量一致性與可追溯性。

應用領域

1.   超高速 DWDM 系統研發 / 生產

?   測量 50GHz 窄間隔信道波長 / 功率 / 串擾，支撐 400G/800G/1.6T 系統驗證與量產抽檢。

?   一鍵測 EDFA 噪聲系數，適配 + 23dBm 高功率輸入，保障長距傳輸信噪比。

2.   光器件與模塊測試

?   光源：測 DFB 激光器、VCSEL 等的波長精度、邊模抑制比（SMSR）。

?   無源器件：測 WDM、濾光片的透射 / 反射譜、隔離度。

?   有源模塊：驗證 OSA/OTU 光譜合規性，適配產線自動化測試。

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