日本大塚電子OTSUKA SM-100 系列便攜高精度膜厚計簡介

來源：津越工業設備(武漢)有限公司 2026年06月10日 11:32

SM-100 系列是日本大塚電子推出的手持款光譜膜厚儀，憑借無損檢測、精度高、上手簡單的特點，深受實驗室和生產現場認可，專門用來檢測各類薄膜、涂層厚度，光學、半導體、光伏行業日常質檢、研發巡檢都在用。

一、技術規格

測量原理：白光反射分光干涉法，非接觸式檢測

區分型號：SM-100S 標準版、SM-100P 專業版

測量范圍：SM-100S 單層 1~50μm；SM-100P 單層 0.1~100μm，最多可測 3 層薄膜

重復精度：可達 0.01μm，測量數據穩定

光斑尺寸：直徑≤1mm，狹小區域也能精準測量

單次測量時長：1 秒快速出結果

測頭設計：支持 270° 旋轉，多角度測量更靈活

整機重量：約 1.1kg，手持操作方便

續航能力：滿電可連續使用 4 小時以上

數據功能：自帶存儲，USB 接口可導出數據存檔

內置材料折射率數據庫，常規材料直接選用

儀器發出白光照射在樣品表面，基底與薄膜會分別反射光線，設備通過分析光線干涉后的光譜信號，自動計算出薄膜的實際厚度。整個過程不用接觸工件，不會刮傷表面、造成污染，高價值樣品也能放心檢測。

全程非接觸測量，不像接觸式測厚工具容易劃傷鍍層、薄膜，晶圓、光學鏡片、柔性材料這類嬌貴工件，檢測起來不用擔心損傷。

儀器本身重復測量誤差很小，不管是車間批量抽檢，還是實驗室做研發實驗，數值都穩定可靠，日常品質管控、數據對標都能滿足要求。

玻璃、金屬、塑料、半導體基材都能正常測量，不用頻繁更換探頭、反復校準，切換不同樣品檢測也很省事。專業款還能解析多層涂層，應對復雜鍍膜產品毫無壓力。

機身輕巧，走到哪測到哪，產線工位、質檢室、研發實驗室都能擺放使用。可旋轉測頭設計，面對異形工件、邊角位置也能輕松對準測量點。

開機就能使用，不用復雜調試，新手簡單熟悉后即可上手。一秒出讀數，大批量檢測也能保證效率，檢測數據還能導出電腦整理報表，臺賬記錄很方便。

平時注意保護測量鏡頭，有灰塵污漬用無塵布搭配無水乙醇輕輕擦拭即可。避免硬物磕碰鏡頭與機身，長期閑置時放在干燥避光環境，定期補充電量。建議每年使用標準試片做一次精度校驗，長久保障測量準確度。

大塚電子 SM-100 系列是實用性很強的便攜膜厚檢測儀，兼顧高精度、無損測量與移動作業的需求。標準版適合常規單層薄膜批量檢測，專業款可應對多層復雜涂層，功能劃分清晰。設備耐用、操作簡單，是薄膜涂層厚度檢測環節里，口碑和實用性都在線的主流機型。

相關產品

凡本網注明“來源：化工儀器網”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-化工儀器網合法擁有版權或有權使用的作品，未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的，應在授權范圍內使用，并注明“來源：化工儀器網”。違反上述聲明者，本網將追究其相關法律責任。
本網轉載并注明自其他來源（非化工儀器網）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時，必須保留本網注明的作品第一來源，并自負版權等法律責任。
如涉及作品內容、版權等問題，請在作品發表之日起一周內與本網聯系，否則視為放棄相關權利。