nanoSAQLA——高通量納米粒徑分析的高效解決方案

對于需要進行大量樣品檢測的質檢部門，大塚電子的nanoSAQLA多樣品納米粒徑測量系統提供了高效便捷的解決方案。

nanoSAQLA基于動態光散射法，粒徑測量范圍為0.6 nm至10 μm，濃度范圍覆蓋0.00001%~40%，適用于從稀薄到濃厚的各類溶液體系。

該設備的最大亮點在于其高通量的自動測量能力：標準配置即可實現5個樣品的連續測量，每樣品測量時間約1分鐘，配備AS50自動進樣器后更可一次放置50個樣品進行全自動測量。

nanoSAQLA采用了內置非浸泡型樣品池單元塊設計，各個樣品池獨立存在，無需擔心交叉污染問題，保證了檢測結果的準確性與可重復性。

設備操作極為簡便，搭載一鍵式測量功能，且內置溫度梯度功能，可在0~90℃的范圍內進行溫度依賴性的粒徑分析。

該設備廣泛應用于界面化學、無機物質、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫學等領域的基礎研究和應用研究，尤其適用于需要日常大批量質檢的場合。

緊湊小巧的機身設計（尺寸僅W240×D480×H375 mm，重量約18 kg）使其在實驗室空間中占據極小位置，是兼顧性能與效率的理想選擇。