受設(shè)計(jì)形式差異的影響，儀器因素主要包括結(jié)構(gòu)形式、儀器關(guān)鍵部件（天平、測溫元件等）的靈敏度以及加熱方式等方面，這些因素對于實(shí)驗(yàn)結(jié)果會產(chǎn)生不同程度的影響。

1、 儀器結(jié)構(gòu)形式的影響

根據(jù)試樣與天平刀線的相對位置不同，可以將熱重分析儀分為下皿式（也稱吊籃式）、上皿式和水平式三種。不同結(jié)構(gòu)形式的儀器對結(jié)果產(chǎn)生的影響程度不同。

(1) 氣氛氣體在儀器中流動方式的影響

對于熱重分析儀而言，試樣周圍和天平周圍氣氛氣體的流動方式對于實(shí)驗(yàn)結(jié)果會產(chǎn)生不同程度的影響。當(dāng)試樣在實(shí)驗(yàn)過程中產(chǎn)生氣體產(chǎn)物時，氣氛氣體在儀器中的流動方式會對氣體產(chǎn)物逸出的過程產(chǎn)生不同程度的影響，因此不同結(jié)構(gòu)形式的儀器對測量結(jié)果也會產(chǎn)生不同程度的影響。

(2) 支架自身受熱不均勻的影響

對于熱重分析儀而言，由于質(zhì)量測量系統(tǒng)（天平室）在處于室溫附近（通常略高于室溫）的恒定溫度下工作，在實(shí)驗(yàn)時位于加熱爐中的試樣所處的溫度通常按照設(shè)定的程序變化，因此在從試樣至天平室之間的區(qū)域存在著溫度差。這種形式的溫度差通常會導(dǎo)致連接試樣和天平橫梁的部件發(fā)生微小的形變，從而引起測量體系重心的變化，最終會產(chǎn)生表觀的質(zhì)量變化。

2、天平靈敏度的影響

天平的靈敏度和量程密切相關(guān)。靈敏度越高，實(shí)驗(yàn)時所用的樣品量就越少。對于上皿式和水平式結(jié)構(gòu)形式的熱重分析儀而言，由于其支架本身具有一定的質(zhì)量，由此導(dǎo)致天平的量程比下皿式結(jié)構(gòu)的熱重分析儀的量程要大。

3、加熱爐的影響

在熱重實(shí)驗(yàn)過程中，溫度變化主要是通過加熱爐和溫度控制單元實(shí)現(xiàn)的。一般來說，加熱爐的體積和加熱方式對于TG曲線的形狀也會產(chǎn)生較大的影響。

為了使實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)具有較好的重復(fù)性，試樣在加熱爐中應(yīng)位于控溫較好的爐體區(qū)域（即通常所指的均溫區(qū)）。爐體越大，均溫區(qū)所占的比例越小。實(shí)驗(yàn)時，通過溫控裝置調(diào)整加熱功率，使處于加熱爐均溫區(qū)的試樣的溫度盡可能與加熱爐的溫度保持一致。

爐體越大，控溫的難度也隨之提高。對于含有等溫段的溫度控制程序而言，其對于加熱爐的控溫能力提出了更高的要求。當(dāng)加熱速率較快時，爐體越大則越難在較短的時間內(nèi)實(shí)現(xiàn)在設(shè)定的溫度下等溫。

對于以上所介紹的這些與儀器相關(guān)的影響因素而言，可以通過儀器基線校正或者扣除空白基線的方法來消除其對結(jié)果產(chǎn)生的影響。理論上，除天平靈敏度的影響因素之外，在經(jīng)過這種處理后得到的實(shí)驗(yàn)曲線中可以忽略由這些因素產(chǎn)生的影響。