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Nutech 自動進樣器檢漏與氣密性校驗方法
一、校驗概述
Nutech自動進樣器廣泛配套VOCs預濃縮儀、氣相色譜設備，用于蘇碼罐、氣袋氣體自動采樣進樣。設備依靠精密電磁閥、惰性流路、定量環及負壓采樣完成進樣，一旦管路微漏、接頭漏氣、閥門內漏，會造成樣品濃度偏低、數據漂移、平行樣偏差大、空白異常等問題。氣密性檢漏是日常開機、更換管路、維護后的必做校驗項目，本文規范Nutech自動進樣器標準化檢漏與保壓校驗方法。
二、校驗前準備
1. 開機預熱設備，進入系統維護模式，排空管路殘留氣體，清除管路樣品殘留污染。
2. 準備高純氮氣、密封堵頭、檢漏液、無塵擦拭紙，檢查所有管路無老化、開裂、折扁。
3. 檢查蘇碼罐、采樣氣袋閥門閉合正常，無外部破損。
4. 確認壓力傳感器、真空模塊顯示正常，無硬件報錯。
三、整機靜態保壓檢漏(核心校驗)
本方法用于判斷Nutech自動進樣器整體流路是否存在泄漏，為日常常規校驗項目。
1. 將設備所有樣品進氣口、排氣口、備用接口全部封堵密閉。
2. 接入高純氮氣，緩慢升壓至儀器常規工作壓力，穩壓穩定后關閉進氣氣源。
3. 啟動設備自帶保壓檢測程序，靜置保壓10分鐘。
4. 合格判定標準：10分鐘內壓力下降不超過0.5PSI，無持續泄壓，判定氣密性合格。
5. 若壓力快速下降，判定流路存在泄漏，需進行分段查漏。
四、分段查漏定位方法
1. 按“總路—分支路—單工位”逐級封閉排查，依次隔離閥組、定量環、樣品工位管路。
2. 單獨對各支路保壓，鎖定泄漏所在管路區間。
3. 重點排查高頻泄漏點：卡套接頭、管路切口、電磁閥密封面、工位轉接接頭、O型密封圈。
五、皂泡精準檢漏操作
針對接頭、閥件、管路肉眼無法識別的微漏點位，采用皂液檢漏：
1. 保持系統帶壓狀態，在接頭、閥口、管路彎折處輕涂薄層檢漏液。
2. 觀察是否產生連續氣泡，起泡位置即為泄漏點。
3. 輕微泄漏：拆卸管路，清理毛刺、雜質，更換石墨墊片后重新緊固。
4. 密封件老化變形直接更換全新密封圈，禁止舊件復用。
5. 檢漏完成徹底擦拭干凈管路，氮氣吹掃流路，避免殘留檢漏液污染VOC管路。
六、蘇碼罐、氣袋工位專項氣密性校驗
6.1 蘇碼罐校驗
1. 將真空合格蘇碼罐接入Nutech自動進樣器工位。
2. 執行罐體檢漏程序，閉合通路保壓10分鐘。
3. 壓力穩定無衰減，判定罐體閥門、連接管路氣密性合格。
6.2 采樣氣袋校驗
1. 氣袋充入微量高純氮氣，封閉袋口與管路。
2. 靜置保壓觀察，壓力無明顯下降、接口無氣泡為合格。
3. 氣袋出現漏氣、鼓泡、泄壓需直接更換。
七、定量環與閥組內漏校驗
1. 將設備切換至進樣加載狀態，封閉定量環回路。
2. 單獨對定量環、閥島流路保壓測試。
3. 若壓力衰減超標，多為電磁閥閥芯磨損、密封失效導致內漏。
4. 對內漏閥件進行超聲清洗或整體更換，保證切換無串氣、無泄漏。
八、校驗后復位操作
1. 緩慢放空系統壓力，嚴禁快速泄壓沖擊傳感器。
2. 拆除堵頭、檢漏輔助配件，徹底吹掃整條流路。
3. 運行空白進樣程序，確認基線正常、無殘留污染。
4. 氣密性合格后方可啟動樣品測試序列。
九、校驗周期與注意事項
1. 日常實驗：每日開機執行一次簡易保壓檢漏。
2. 維護后：更換管路、密封圈、閥件后必須完整氣密性校驗。
3. 長期停機重啟、高低濃度樣品交替測試前需復檢氣密性。
4. 禁止帶壓拆裝管路，禁止殘留檢漏液留在惰性流路內。
十、常見漏氣原因總結
常見泄漏問題集中在：管路切口不平整、卡套未壓緊、密封墊片老化、電磁閥內漏、蘇碼罐閥門泄壓、氣袋微破損。定期校驗、及時更換耗材，可有效保障Nutech自動進樣器進樣精準、數據穩定可靠。
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