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池田屋 Otsuka大塚電子RE-200參數介紹
池田屋 Otsuka大塚電子RE-200參數介紹
池田屋 Otsuka大塚電子RE-200參數介紹
RE-200 是大塚電子無機械旋轉偏振片式高速相位差檢測設備，依托光子晶體偏振元件 + CCD 一次性成像采集偏振光場，單次測量≤0.1s，解決傳統相位差儀電機旋轉帶來的磨損、測速慢、長期精度漂移問題。
規格參數
| 參數項目 | 標準技術指標 |
|---|---|
| 測量原理 | 透過式偏振光學 + 光子晶體元件 + CCD 一次性成像，無旋轉驅動部件化工儀器網 |
| 標準測量波長 | 550nm（可見光標準，可定制 405/450/633/850nm 多波長） |
| 相位差 Re 測量量程 | 0nm～1000nm（1μm），可直接測 0nm 超低殘留應力相位差化工儀器網 |
| 測量光斑尺寸 | 2.2mm×2.2mm 固定光斑 |
| 樣品適用尺寸 | 最小 10×10mm～最大 100×100mm 平板樣品 |
| 主軸方位角重復精度 | 0.05°（3σ），微小光軸偏移精準識別 |
| 單次測量耗時 | ＜0.1s，高速適配自動化產線節拍 |
| 可輸出全部檢測參數 | 相位差 Re (nm/°)、主軸方位角 θ、橢圓率 ε、方位角 γ、三維折射率 Nx/Ny/Nz粉體網 |
Otsuka 大塚 RE-200 高速相位差測量儀，無機械旋轉偏振結構，單次測量＜0.1s，量程 0~1000nm 可測超低殘留應力相位差，光軸檢測精度 0.05°。標配 550nm 光源，可同步輸出 Re、光軸角、三維折射率；選配旋轉傾斜治具實現 Rth 三維應力測量。適配光學補償膜、偏光片、光學玻璃、車載鏡片應力品控，常搭配精密滑臺、分光光譜儀、無塵 FFU 組成全自動光學檢測方案，實驗室與產線高速抽檢通用。
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