泰勒霍普森、便攜式粗糙度儀SURTRONIC DUO信息
泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO核心功能亮點
分體無線測量,解決難測工位
兩單元分離后,驅動頭伸入深孔、內孔、模具型腔、曲軸內孔,手持顯示屏遠距離讀數,無需俯身、倒掛操作。
一鍵極速測量
InstantOn 秒開機(<5s),單鍵啟動掃描,3 秒出全套粗糙度參數,同步顯示表面輪廓波形圖;支持 μm/μin 單位切換。
自動校準,溯源可靠
標配 CS-20 校準樣板(Ra=5.81μm),一鍵自動校準,滿足質檢、來料、出貨檢測計量溯源要求。
工業耐用設計
測針收納保護座,運輸防斷針;整機抗摔,屏幕強光可視;鋰電循環壽命長,支持充電寶現場充電。
數據存儲與導出
本地存儲多組測量記錄,USB 導出至 PC,可對接質檢報表、SPC 過程管控。
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