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日本T-DYLEC掃描型納米顆粒粒徑分布測量儀器3938E57的操作應用
日本T-DYLEC掃描型納米顆粒粒徑分布測量儀器3938E57的操作應用
TSI的SMPS™被廣泛用作確定小于1微米氣溶膠顆粒粒徑分布的標準。 SMPS型號3938E57主要產品包括1納米CPC型號3757-50和1納米DMA型號3086，能夠測量從1納米以下的顆粒尺寸分布。
通過在近期的SMPS基礎上加入Model 3757納米增強器和Model 3086差分遷移分析儀（1 nm-DMA），SMPS的可測量范圍已擴展至僅1納米。
特色
高分辨率數據：每十年64個通道（109個通道，顆粒粒徑分布為1~50納米）
靈活元件設計
測量顆粒尺寸范圍較寬：可測量范圍為1~50納米
加入3081A長DMA，其波長可測量3個十年，范圍為1納米至1000納米。
擴散損耗的較優系統
可通過專用軟件Aerosol Instrument Manager（AIM）操作
顆粒測量：能夠測量各種樣品
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