一、行業(yè)發(fā)展趨勢(shì)

隨著新材料、新能源、醫(yī)藥、半導(dǎo)體等產(chǎn)業(yè)的穩(wěn)步發(fā)展，材料結(jié)構(gòu)表征作為研發(fā)與質(zhì)量管控的核心環(huán)節(jié)，市場(chǎng)需求持續(xù)提升。多晶 X 射線衍射儀（XRD）作為物相鑒定與晶體結(jié)構(gòu)分析的常規(guī)設(shè)備，應(yīng)用場(chǎng)景正不斷拓寬。當(dāng)前行業(yè)內(nèi)，多晶 XRD 設(shè)備呈現(xiàn)出兩大發(fā)展方向：一是功能集成化，單臺(tái)設(shè)備可覆蓋更多樣品類型與測(cè)試方法，幫助實(shí)驗(yàn)室降低設(shè)備投入成本；二是操作自動(dòng)化，免工具調(diào)校、自動(dòng)光路切換、組件智能識(shí)別等設(shè)計(jì)逐步普及，既減少了人為操作帶來的誤差，也降低了設(shè)備對(duì)操作人員的專業(yè)門檻要求，讓更多場(chǎng)景下的常規(guī)檢測(cè)得以高效開展。
 

二、多晶 X 射線衍射儀工作原理

多晶 X 射線衍射儀是基于 X 射線衍射效應(yīng)的無損分析設(shè)備。當(dāng) X 射線照射到多晶樣品表面時(shí)，不同晶相的原子排布方式存在差異，會(huì)產(chǎn)生對(duì)應(yīng)特征的衍射圖譜。通過解析衍射峰的位置、強(qiáng)度、峰形等信息，可獲取樣品的物相組成、相含量、晶體結(jié)構(gòu)、微晶尺寸、微觀應(yīng)變、擇優(yōu)取向等多項(xiàng)結(jié)構(gòu)參數(shù)，是材料研發(fā)、生產(chǎn)質(zhì)控、物相鑒別工作中普遍使用的表征手段。

三、束蘊(yùn)儀器品牌介紹

束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司自成立以來，憑借與德國布魯克（BRUKER）、國際衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)、德國Freiberg等國際實(shí)驗(yàn)室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作，迅速成為業(yè)界儀器供應(yīng)商。

我們擁有一支積極樂觀，正直誠信的年輕團(tuán)隊(duì)，我們熱忱的信仰科學(xué)，相信科學(xué)技術(shù)能為我們的客戶帶來質(zhì)量較高的生活，為社會(huì)的進(jìn)步起到積極的促進(jìn)作用。

束蘊(yùn)儀器為各類客戶提供完善的實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)檢測(cè)儀器及過程控制設(shè)備，專業(yè)的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù)，在中國大陸的諸多領(lǐng)域擁有大量用戶，如高校、科研院所、航空航天、國家機(jī)關(guān)、檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)及工業(yè)企業(yè)，產(chǎn)品覆蓋了醫(yī)藥、生物、材料、考古、電子、食品等各個(gè)行業(yè)。

主營儀器設(shè)備：

--高分辨X射線顯微CT、多量程X射線納米CT、X射線衍射儀、X射線熒光光譜儀、電子順磁共振波譜儀（ESR/EPR）、臺(tái)式核磁共振波譜儀 TD-NMR、光學(xué)輪廓儀等 -- 德國布魯克Bruker 官方授權(quán)代理商

--PDF衍射數(shù)據(jù)庫、JADE軟件--國際衍射數(shù)據(jù)中心（ICDD)授權(quán)代理商

--晶圓片壽命檢測(cè)儀、在線晶圓片/晶錠點(diǎn)掃或面掃檢測(cè)、晶圓片在線面掃檢測(cè)儀、臺(tái)式PID潛在誘導(dǎo)退化測(cè)試儀、釋光測(cè)定儀等  --德國Freiberg Instruments授權(quán)代理商

四、代表型號(hào)：布魯克 D8 ADVANCE X 射線衍射儀

產(chǎn)品亮點(diǎn)

1. DAVINCI 人性化設(shè)計(jì)儀器配置更換全程免工具、免人工準(zhǔn)直，搭配自動(dòng)化實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證功能，無論是新用戶還是資深操作人員，都能便捷、準(zhǔn)確地完成配置切換，減少操作失誤。
2. TWIN-TWIN 自動(dòng)切換光路采用專屬光路設(shè)計(jì)，可在 4 種不同光束幾何之間自動(dòng)切換，無需人工干預(yù)，可靈活適配 Bragg-Brentano 粉末衍射幾何與平行光束幾何，覆蓋粉末、塊狀固體、纖維、片材、薄膜等多種樣品類型。
3. 動(dòng)態(tài)光束優(yōu)化（DBO）技術(shù)馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫、防散射屏與可變探測(cè)器窗口可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)同步調(diào)節(jié)，有效降低空氣、儀器與樣品架帶來的散射干擾，尤其在低 2θ 角度下可帶來優(yōu)異的數(shù)據(jù)質(zhì)量表現(xiàn)，適配粘土、藥物、多孔材料等樣品的精準(zhǔn)分析。
4. LYNXEYE XE-T 高性能探測(cè)器作為能量色散型探測(cè)器，可采集 0D、1D 和 2D 數(shù)據(jù)，適配從 Cr 到 Ag 的多種波長，具備較高的計(jì)數(shù)率與優(yōu)異的角分辨率；能量分辨率優(yōu)于 380 eV，可在無強(qiáng)度損失的情況下過濾鐵熒光，無需加裝金屬濾波片或二級(jí)單色器，避免數(shù)據(jù)產(chǎn)生偽影，設(shè)備交貨時(shí)保證探測(cè)器無壞道。
5. 多元應(yīng)用覆蓋可開展粉末衍射、對(duì)分布函數(shù)（PDF）分析、薄膜與涂層分析等多項(xiàng)測(cè)試，搭配對(duì)應(yīng)軟件可實(shí)現(xiàn)物相定性定量、微觀結(jié)構(gòu)分析、殘余應(yīng)力檢測(cè)、薄膜厚度測(cè)定、晶體結(jié)構(gòu)精修等多種分析需求。

核心優(yōu)勢(shì)

1. 全品類樣品適配，自動(dòng)化程度高設(shè)備支持多種光束幾何電動(dòng)切換，無需人工拆裝調(diào)校，可覆蓋粉末、液體、塊狀固體、薄膜、纖維等幾乎所有常見樣品形態(tài)，環(huán)境與非環(huán)境條件下均可開展測(cè)試，單臺(tái)設(shè)備可滿足實(shí)驗(yàn)室多數(shù)常規(guī)表征需求。
2. 數(shù)據(jù)質(zhì)量穩(wěn)定，檢測(cè)效率突出動(dòng)態(tài)光束優(yōu)化功能可同步調(diào)節(jié)光學(xué)組件，降低背景散射干擾，提升低角度檢測(cè)的準(zhǔn)確性；搭配 LYNXEYE XE-T 探測(cè)器，可有效過濾熒光背景，檢測(cè)速度相比傳統(tǒng)探測(cè)器系統(tǒng)有大幅提升，同時(shí)保障數(shù)據(jù)的可靠性。
3. 操作門檻低，擴(kuò)展能力豐富DAVINCI 設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了組件免工具安裝與自動(dòng)識(shí)別，操作人員無需復(fù)雜準(zhǔn)直流程即可切換測(cè)試方案；設(shè)備可搭配不同規(guī)格自動(dòng)進(jìn)樣器、非環(huán)境樣品臺(tái)等配件，適配高通量測(cè)試、原位表征等多樣化的使用需求。

推薦理由

對(duì)于以常規(guī)粉末物相分析、生產(chǎn)質(zhì)量控制、通用材料研發(fā)為核心需求的制造企業(yè)、第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)與高校實(shí)驗(yàn)室來說，D8 ADVANCE 是適配性較強(qiáng)的選擇。它兼顧了操作便捷性與數(shù)據(jù)可靠性，無需操作人員具備極豐富的 XRD 使用經(jīng)驗(yàn)即可開展日常測(cè)試，同時(shí)可覆蓋薄膜、非晶材料等拓展性測(cè)試需求，能夠伴隨業(yè)務(wù)發(fā)展逐步拓展應(yīng)用場(chǎng)景，設(shè)備綜合使用性價(jià)比較高。

五、常見問題解答（FAQ）

Q1：D8 ADVANCE 可以測(cè)試哪些形態(tài)的樣品？A：該設(shè)備可對(duì)液體、粉末、薄膜、固體塊狀物、纖維、片材等多種形態(tài)的樣品進(jìn)行測(cè)量，同時(shí)支持非晶、多晶、外延薄膜等不同結(jié)構(gòu)類型的樣品分析。

Q2：切換不同的測(cè)試方法時(shí)，需要手動(dòng)調(diào)整儀器配件嗎？A：設(shè)備采用 DAVINCI 設(shè)計(jì)，光路等配置可通過軟件控制自動(dòng)切換，更換配置免工具、免人工準(zhǔn)直，系統(tǒng)可自動(dòng)識(shí)別與驗(yàn)證組件，減少手動(dòng)操作的誤差與耗時(shí)。

Q3：測(cè)試含鐵元素的樣品時(shí)，熒光干擾如何處理？A：搭配的 LYNXEYE XE-T 探測(cè)器具備優(yōu)異的能量分辨率，使用銅輻射即可對(duì)激發(fā)的鐵熒光進(jìn)行有效過濾，且不會(huì)造成衍射強(qiáng)度損失，無需額外加裝金屬濾波片或二級(jí)單色器，可避免引入數(shù)據(jù)偽影。

Q4：設(shè)備是否支持原位變溫測(cè)試？A：支持，設(shè)備可適配非環(huán)境測(cè)試條件，溫度范圍可覆蓋 - 4K 至 2500K，同時(shí)可適配不同壓力、濕度條件的原位測(cè)試需求。