摘要： 在光學(xué)膜、功能薄膜、鋰電隔膜及涂布產(chǎn)品等卷對卷連續(xù)生產(chǎn)中，薄膜厚度全幅面均勻性的實(shí)時(shí)監(jiān)控是保障產(chǎn)品一致性與良率的關(guān)鍵。池田屋全新引入的日本大塚電子（Otsuka Electronics）線掃描薄膜厚度計(jì)【在線式】，基于光譜干涉測量技術(shù)與高精度膜厚解析引擎，實(shí)現(xiàn)最短1毫秒測量間隔與最寬10米測量寬度的在線全幅掃描，無需切割樣品即可對連續(xù)行進(jìn)中的薄膜進(jìn)行非接觸、非破壞、實(shí)時(shí)全幅厚度分布測量，為光學(xué)膜、鋰電池隔膜及精密涂布等行業(yè)的產(chǎn)線質(zhì)控提供了高效智能的在線膜厚監(jiān)控解決方案。

正文：

在光學(xué)膜（偏光片、擴(kuò)散膜、AR/IR濾光片）、鋰電池隔膜、精密涂布產(chǎn)品及各類功能薄膜的卷對卷連續(xù)生產(chǎn)中，薄膜厚度在橫向（寬度方向）與縱向（長度方向）的均勻性是決定產(chǎn)品性能與良率的核心指標(biāo)。傳統(tǒng)離線抽檢方式存在滯后性，無法及時(shí)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)線波動(dòng)導(dǎo)致的厚度偏差；而單點(diǎn)在線膜厚儀雖能實(shí)時(shí)測量，卻無法反映全幅寬度的厚度分布。為滿足卷對卷產(chǎn)線對全幅面實(shí)時(shí)厚度監(jiān)控的需求，池田屋引入日本大塚電子（Otsuka Electronics）線掃描薄膜厚度計(jì)【在線式】。

大塚電子成立于1973年，隸屬于大塚集團(tuán)，在光學(xué)測量領(lǐng)域擁有超過五十年的技術(shù)積累。該在線式線掃描膜厚計(jì)基于光譜干涉測量原理：測量頭沿薄膜寬度方向掃描，在每個(gè)測量點(diǎn)獲取反射干涉光譜，通過高精度FFT膜厚解析引擎實(shí)時(shí)計(jì)算該點(diǎn)厚度，最終生成薄膜全幅寬度的厚度分布圖。該系統(tǒng)將高速光譜儀、專用光學(xué)探頭與高精度膜厚計(jì)算軟件集成于一體，專為24/7連續(xù)運(yùn)行的卷對卷產(chǎn)線設(shè)計(jì)。

在核心性能方面，該設(shè)備的膜厚測量范圍為0.1至300μm，覆蓋從超薄光學(xué)涂層到厚功能薄膜的廣泛應(yīng)用需求。單臺(tái)測量頭支持最寬500mm的測量寬度，通過多臺(tái)測量頭級聯(lián)，最大可覆蓋10米的幅寬。其測量間隔最短可達(dá)1毫秒，可在高速行進(jìn)中捕捉薄膜厚度的瞬時(shí)變化，實(shí)現(xiàn)真正的“實(shí)時(shí)全幅”監(jiān)控。

在硬件設(shè)計(jì)方面，測量頭尺寸僅81×140×343mm，重量約4kg，便于集成至現(xiàn)有產(chǎn)線。測量頭內(nèi)集成光譜儀與光學(xué)系統(tǒng)，通過光纖與中央處理單元連接，安裝簡便，不占用過多產(chǎn)線空間。設(shè)備支持遠(yuǎn)程控制與數(shù)據(jù)輸出，可實(shí)時(shí)將厚度數(shù)據(jù)反饋至產(chǎn)線控制系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)膜厚閉環(huán)控制或自動(dòng)報(bào)警。

在應(yīng)用場景方面，該在線式線掃描膜厚計(jì)廣泛適用于偏光片、擴(kuò)散膜、增亮膜等光學(xué)薄膜的產(chǎn)線全幅厚度均勻性監(jiān)控、鋰電池隔膜與涂布隔膜的厚度在線檢測、精密涂布產(chǎn)品（膠帶、保護(hù)膜、窗膜）的涂布厚度實(shí)時(shí)控制，以及柔性電子基板（PI、PET）的厚度全檢。

行業(yè)觀察人士指出，在卷對卷薄膜生產(chǎn)與精密涂布領(lǐng)域，全幅面實(shí)時(shí)厚度監(jiān)控是提升產(chǎn)品一致性與產(chǎn)線良率的關(guān)鍵手段。池田屋此次引入的大塚電子線掃描薄膜厚度計(jì)【在線式】，以其1ms高速響應(yīng)、300μm寬量程、10米級聯(lián)幅寬及非接觸全幅掃描等核心優(yōu)勢，為國內(nèi)光學(xué)膜、鋰電池隔膜及精密涂布行業(yè)提供了高效智能的在線膜厚監(jiān)控方案。