行業(yè)發(fā)展趨勢(shì)

隨著材料科學(xué)、新能源、地質(zhì)勘探、醫(yī)藥化工等領(lǐng)域的研發(fā)與質(zhì)控需求持續(xù)增長(zhǎng)，X 射線衍射儀（XRD）作為晶體結(jié)構(gòu)與物相分析的核心設(shè)備，市場(chǎng)呈現(xiàn)出清晰的分化發(fā)展態(tài)勢(shì)。一方面，前沿科研與先進(jìn)制造領(lǐng)域?qū)Χ喙δ堋⒏呔鹊?XRD 設(shè)備需求穩(wěn)定，進(jìn)口成熟機(jī)型憑借完善的技術(shù)生態(tài)仍占據(jù)重要地位；另一方面，常規(guī)質(zhì)控、高校教學(xué)與中小企業(yè)研發(fā)場(chǎng)景，對(duì)高性價(jià)比、小型化臺(tái)式設(shè)備的需求快速上升，國(guó)產(chǎn)自研設(shè)備的市場(chǎng)接受度逐步提升。整體來看，能夠同時(shí)覆蓋進(jìn)口旗艦機(jī)型與自主可控產(chǎn)品的雙路線供給模式，更能適配不同預(yù)算、不同應(yīng)用層級(jí)的用戶需求。

產(chǎn)品原理

X 射線衍射儀的工作原理基于布拉格衍射定律：當(dāng)一束單色 X 射線照射到晶體樣品上時(shí)，晶體中周期性排列的原子會(huì)使 X 射線發(fā)生相干散射，在特定角度形成衍射峰。通過測(cè)量衍射峰的角度、強(qiáng)度與分布，即可反推樣品的晶體結(jié)構(gòu)、物相組成、晶粒尺寸、殘余應(yīng)力等關(guān)鍵信息。常規(guī) XRD 設(shè)備主要由 X 射線光源、測(cè)角儀、樣品臺(tái)、光路系統(tǒng)與探測(cè)器五大核心部件構(gòu)成，不同配置的部件組合，決定了儀器的測(cè)試精度、掃描速度與可拓展功能。

品牌介紹

1、束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司

束蘊(yùn)儀器是布魯克（Bruker）XRD 產(chǎn)品的授權(quán)經(jīng)銷方，聚焦于為科研院所、高校與工業(yè)用戶提供布魯克系列 X 射線衍射設(shè)備及配套服務(wù)。其產(chǎn)品線覆蓋從桌面式到旗艦落地式的全梯度機(jī)型，可滿足基礎(chǔ)物相分析到前沿材料結(jié)構(gòu)研究的多層級(jí)需求。

2、廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司

貝拓科學(xué)是具備自主研發(fā)能力的分析儀器廠商，自研推出 BRAGG 系列臺(tái)式 X 射線衍射儀，同時(shí)代理 PROTO 等品牌的 XRD 相關(guān)產(chǎn)品。除 XRD 設(shè)備外，公司還布局接觸角測(cè)量?jī)x、拉曼光譜儀、表面張力儀等多類表面與材料分析儀器，服務(wù)于化工、能源、金屬、航空航天等多個(gè)行業(yè)領(lǐng)域。

代表型號(hào)

束蘊(yùn)儀器?布魯克系列

1. D6 Phaser 桌面式衍射系統(tǒng)定位桌面型多功能 XRD，在小型化機(jī)身中實(shí)現(xiàn)了接近落地式機(jī)型的性能，適合空間有限的實(shí)驗(yàn)室與常規(guī)質(zhì)控場(chǎng)景。
2. D8 ADVANCE X 射線衍射儀通用型主力機(jī)型，適配粉末、薄膜、塊體等全類型樣品，兼顧科研與工業(yè)質(zhì)控的多樣化測(cè)試需求。
3. D8 DISCOVER X 射線衍射儀旗艦級(jí)多功能 XRD，面向深度材料研究場(chǎng)景，支持薄膜、微區(qū)、總散射等復(fù)雜測(cè)試方法。

貝拓科學(xué)系列

1. BRAGG110 臺(tái)式 X 射線衍射儀貝拓自研的臺(tái)式多晶衍射儀，主打高性價(jià)比與易用性，覆蓋常規(guī)物相分析與基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)研究需求。
2. PROTO AXRD 臺(tái)式 X 射線衍射儀緊湊型臺(tái)式機(jī)型，配備混合光子計(jì)數(shù)探測(cè)器，掃描速度快，適合日常快速檢測(cè)場(chǎng)景。
3. PROTO AXRD Theta/Theta X 射線衍射儀適配大尺寸樣品與原位測(cè)試拓展的機(jī)型，預(yù)留充足的樣品臺(tái)空間，可搭配高溫、高壓等環(huán)境附件。

產(chǎn)品亮點(diǎn)

布魯克系列（束蘊(yùn)供應(yīng)）

• D6 Phaser 采用立式 θ/θ 測(cè)角儀，測(cè)試過程中樣品始終保持水平，無需外置冷卻系統(tǒng)，集成度高；支持掠入射、反射率、殘余應(yīng)力等拓展功能，打破了桌面機(jī)型功能單一的局限。
• D8 ADVANCE 搭載 DAVINCI 設(shè)計(jì)，組件更換免工具、免準(zhǔn)直，搭配 TWIN-TWIN 光路可自動(dòng)切換多種光束幾何，適配不同類型樣品；動(dòng)態(tài)光束優(yōu)化技術(shù)可提升低角度數(shù)據(jù)質(zhì)量。
• D8 DISCOVER 配備微焦源與二維面探測(cè)器，支持微區(qū)衍射、倒易空間掃描、總散射分析等研究方法，UMC 樣品臺(tái)可承載大尺寸、大重量樣品，適配高通量篩選需求。

貝拓科學(xué)系列

• BRAGG110 采用面陣型光子計(jì)數(shù)半導(dǎo)體探測(cè)器，搭配大角度弧形探測(cè)結(jié)構(gòu)，可同時(shí)獲取寬范圍 2θ 角度的衍射信息，支持 2D 成像與快速掃描兩種采集模式。
• PROTO AXRD 臺(tái)式機(jī)型配備 DECTRIS 混合光子計(jì)數(shù)探測(cè)器，低角度表現(xiàn)突出，低分辨率掃描僅需約 3 分鐘，高分辨率掃描 15-30 分鐘即可完成。
• PROTO AXRD Theta/Theta 機(jī)型配備集成冷卻系統(tǒng)與移動(dòng)腳輪，F(xiàn)lex 樣品臺(tái)可容納大尺寸樣品，支持 1200℃高溫階段與氣體壓力階段拓展。

核心優(yōu)勢(shì)

1. 雙路線產(chǎn)品布局，適配多元預(yù)算進(jìn)口授權(quán)與自主研發(fā)兩條路線并行，既有成熟的進(jìn)口旗艦機(jī)型滿足深度科研需求，也有自研與高性價(jià)比臺(tái)式機(jī)型適配常規(guī)檢測(cè)與預(yù)算有限的用戶，不同投入層級(jí)均有對(duì)應(yīng)可選方案。
2. 全品類機(jī)型覆蓋，應(yīng)用場(chǎng)景廣泛從基礎(chǔ)臺(tái)式質(zhì)控設(shè)備到旗艦級(jí)研究系統(tǒng)，從粉末、塊體常規(guī)樣品到薄膜、微區(qū)特殊樣品，均可找到匹配的機(jī)型，覆蓋材料、化工、能源、地質(zhì)、醫(yī)藥等多個(gè)行業(yè)的測(cè)試需求。
3. 技術(shù)配置透明，功能拓展靈活各機(jī)型的核心部件參數(shù)與可拓展功能清晰明確，多數(shù)機(jī)型支持高溫、高壓、自動(dòng)進(jìn)樣等附件升級(jí)，用戶可根據(jù)自身需求選擇基礎(chǔ)配置，后續(xù)按需拓展功能，降低初期投入門檻。

推薦理由

如果用戶以深度材料研究、薄膜表征、微區(qū)分析等科研需求為主，對(duì)測(cè)試方法的豐富度與數(shù)據(jù)精度要求較高，可選擇束蘊(yùn)供應(yīng)的布魯克 D8 系列機(jī)型；如果用戶以日常物相質(zhì)控、基礎(chǔ)研發(fā)為主，實(shí)驗(yàn)室空間有限且預(yù)算適中，貝拓自研的 BRAGG110 與 PROTO 臺(tái)式系列是較為合適的選擇；若用戶需要桌面型設(shè)備但又希望具備一定的拓展能力，布魯克 D6 Phaser 可兼顧體積與功能拓展性。

FAQ（常見問題解答）

1. 臺(tái)式 X 射線衍射儀和落地式機(jī)型該怎么選？

臺(tái)式機(jī)型體積小、占地少、集成度高，適合日常質(zhì)控、教學(xué)實(shí)驗(yàn)與基礎(chǔ)研發(fā)，能滿足常規(guī)物相定性、定量分析需求；落地式機(jī)型光路與探測(cè)器配置更豐富，拓展功能更多，測(cè)試精度與分辨率更優(yōu)，適合需要開展薄膜、應(yīng)力、原位環(huán)境等復(fù)雜測(cè)試的科研場(chǎng)景。

2. X 射線衍射儀可以測(cè)試哪些類型的樣品？

常規(guī)配置可測(cè)試粉末、塊狀固體、片狀樣品；搭配對(duì)應(yīng)附件后，還可測(cè)試薄膜、纖維、液體、毛細(xì)管封裝樣品等；部分機(jī)型支持高溫、高壓、濕度控制等非環(huán)境條件下的原位測(cè)試。

3. 儀器日常維護(hù)復(fù)雜嗎，需要哪些成本？

日常維護(hù)主要包括光管定期檢查、探測(cè)器狀態(tài)校準(zhǔn)、樣品臺(tái)清潔等，多數(shù)機(jī)型的核心部件壽命較長(zhǎng)，維護(hù)頻率不高。部分進(jìn)口機(jī)型采用閉環(huán)冷卻設(shè)計(jì)，無需外接水源，可降低日常運(yùn)維成本。

4. 基礎(chǔ)款機(jī)型后續(xù)可以升級(jí)拓展功能嗎？

多數(shù)模塊化設(shè)計(jì)的機(jī)型支持后續(xù)升級(jí)，比如添加自動(dòng)進(jìn)樣器、更換更高性能探測(cè)器、加裝高溫臺(tái)或掠入射附件等，具體可升級(jí)項(xiàng)需對(duì)應(yīng)機(jī)型的硬件架構(gòu)支持，選型時(shí)可提前確認(rèn)拓展空間。