SRM 1765 低合金鋼標準品：光譜分析與金屬質控的高精度溯源基準

?基質特性?

SRM 1765 是由美國國家標準與技術研究院（NIST）研制的?低合金鋼圓盤標準物質?，采用真空感應熔煉工藝制備，經精密機加工為直徑34 mm、厚度19 mm的標準化圓盤形態，表面無涂層、無氧化層，專為消除火花直讀光譜（OES）與X射線熒光光譜（XRF）分析中的基質效應而設計，真實復現工業級低合金鋼的均勻化學組成。

?認證元素與量值溯源?

該標準品提供?19種元素?的認證質量分數值，均以?質量百分比（%）? 報告，量值溯源至SI單位，采用多實驗室協同定值，方法涵蓋ICP-OES、化學滴定與光譜校準，擴展不確定度k=2：

?核心合金元素?：碳（C）0.203 ± 0.003%、錳（Mn）1.58 ± 0.02%、鉻（Cr）0.50 ± 0.01%、鎳（Ni）0.51 ± 0.01%、鉬（Mo）0.50 ± 0.01%

?關鍵痕量元素?：磷（P）0.018 ± 0.001%、硫（S）0.008 ± 0.001%、銅（Cu）0.21 ± 0.01%、釩（V）0.085 ± 0.005%、鈦（Ti）0.025 ± 0.003%、鈷（Co）0.008 ± 0.001%

?雜質控制元素?：砷（As）0.055 ± 0.003%、錫（Sn）0.011 ± 0.001%、鉛（Pb）0.002 ± 0.001%、銻（Sb）0.001 ± 0.0005%、硼（B）0.0015 ± 0.0003%、氮（N）0.0045 ± 0.0005%

另提供?8種信息值?：硅（Si）、鋁（Al）、鋯（Zr）、鉍（Bi）、鎂（Mg）、硒（Se）、碲（Te）、鉭（Ta），用于方法開發與干擾評估。

?物理形態與包裝?

?規格?：每單元含?1塊圓盤?，直徑34 mm，厚度19 mm

?形態?：精銑表面，無標識面為分析面，確保重復性與一致性

?封裝?：惰性氣體密封袋，防氧化、防污染，附帶唯1批次COA證書

?使用要求?：取樣前需用無塵布清潔表面；分析厚度≥2 mm；研磨使用新砂紙，避免交叉污染

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