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大塚電子主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相關材料的光學特性評價?檢查。以高速?高精度?高可靠性且有市場實際應用的分光器MCPD系列為基礎，在中國的顯示器市場上有著20年以上銷售實例，為許多廠家在研究開發、生產部門所使用。并且在光源?照明相關方面，對國家級研究機構、各個廠家的銷售量在逐步擴大。
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嵌入式膜厚檢測儀產品參數
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 20萬-50萬 |
| 應用領域 | 醫療衛生,化工,電子/電池,包裝/造紙/印刷,電氣 |
嵌入式膜厚檢測儀詳細信息
嵌入式膜厚檢測儀 FE-3
嵌入式膜厚檢測儀可高精度測量具有波長依存性的多層膜！
產品信息
特 點
•采用分光干涉法
•搭載高精度FFT膜厚解析系統
•使用光學光纖，可靈活構筑測量系統
•可嵌入至各種制造設備。
•實時測量膜厚
•可對應遠程操作、多點測量
•采用壽命長、安全性高的白色LED光源
測量項目
·多層膜厚解析
用 途
•光學薄膜（超硬涂層、AR薄膜、ITO等）
•FPD相關（光刻膠、SOI、SiO2等）
設備構成
單點型
•半導體晶圓的面內分布測量
•玻璃基板的面內分布測量
多點型
•實時測量
•流向品質管理
•真空室適用
導線型
•實時測量
•寬度方向品質管理
測量案例
超硬涂層的膜厚解析
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移動站：嵌入式膜厚檢測儀
內容聲明：
您訪問的嵌入式膜厚檢測儀產品信息，由大塚電子（蘇州）有限公司自行發布提供，產品價格為面議，如您想了解更多關于嵌入式膜厚檢測儀型號、參數、用途等信息，歡迎咨詢。
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