OTSUKA 大塚電子 MCPD-9800 薄膜測厚多通道光譜儀標準操作技術文獻

摘要

檢測工作結束，先關閉軟件測量程序，切斷光源供電，等待檢測器升溫復位后關閉整機電源；拆解光纖時輕旋接頭，蓋上儀器光口防塵蓋，光纖盤繞收納避免過度彎折。設備出現光譜無信號、厚度數值持續異常，優先核查光纖連接與基底校準參數，內部光學模塊不私自拆解，聯系品牌售后檢修。標準化操作能夠穩定光譜采集狀態，減少厚度數據波動，適配實驗室抽檢與產線連續監測兩類場景。

OTSUKA 大塚電子 MCPD-9800 薄膜厚度測量多通道光譜儀相關介紹

我們提供涵蓋三種類型和12波段的探測器系列，包括的MCPD-9800，旨在為您的需求和測量應用量身定制探測器。

它配備了通用USB端口和局域網通信，支持遠程測量，擴展了便利性和測量應用。

利用512ch或1024ch檢測元件和探測器內部存儲器，可以以高靈敏度和高精度每5毫秒測量紫外、可見光和近紅外區域的發射、透射和吸收光譜，這些區域不斷變化。

標準光纖允許你自由組裝光學系統，不受樣品形狀或尺寸限制。 此外，它易于與顯微鏡和大型舞臺等其他設備結合，在任何領域都能提供好的性能。

MCPD（2285C， 3095C， 3683C）符合日本工業標準JIS Z 8724：2015（光源顏色測量方法）對光譜儀的要求精度，因此你可以放心使用。

大塚電子光學測量與評估中心獲得JCSS校準供應商認證，符合基于《測量法》的國際MRA*2校準企業注冊系統（JCSS*1注冊系統）。 為了公平評估照明器具和光源的性能，國內外正在推動各種標準化，如測量光特性的方法，這些系統所需的測光基本基于“光”的可追溯性。 通過其“光”校準業務，大塚電子致力于通過提供光度可追溯性，促進節能環保照明的傳播與發展。
*1 日本校準服務系統（JCSS）：根據計量法的校準業務登記系統
*2 國際互認協議（MRA）：國際互認

我們提供多種配件、可選單元和分析軟件。 為了提供且有價值的方案，我們憑借積累的技術和專業知識，提供“最佳系統”

設備配置

膠片厚度測量系統
	應用 ? 薄膜厚度、涂層薄膜和保護薄膜 ◎ 晶圓、玻璃基板和鋁基板的薄膜厚度

顯微光譜測量系統
	應用 ? 顯微鏡下的微點測量（反射、透射、吸收） ? 薄膜厚度測量（薄膜、各種基底上的薄膜、保護薄膜）

多點測量系統
	應用： ★ 測量抗反射薄膜的反射率 ★ 涂層薄膜厚度測量 ★ 各種基材的厚度測量

Traverse 飛機兼容系統
	應用： ? 測量防反光薄膜厚度和反射率 ? 功能性薄膜質量控制