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法國CORDOUAN技術公司成立于2007年，致力于納米顆粒復合介質的尺寸表征。經過短短四年時間，CORDOUAN已成為N3（納米粒子，納米材料，納米技術）的全球參考，為納米顆粒和納米材料的表面特征提供創新解決案。
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高分辨納米粒度和zeta電位分析儀產品參數
| 產地類別 | 進口 | 分散方式 | 干濕法分散 |
| 價格區間 | 面議 | 儀器種類 | 動態光散射 |
| 應用領域 | 醫療衛生,化工,生物產業 |
高分辨納米粒度和zeta電位分析儀詳細信息
Amerigo高分辨納米粒度和zeta電位分析儀
l 結合Wallis和Vasco Kin的功能，具有高分辨測量能力
l 非接觸遠程測量納米粒度的動力學分析
l zeta電位的可編程動力學實驗（zeta 對 溫度/pH/時間）
l 動態時間切片功能，可進行數據后處理
l 可選高濃度Flex探頭，連續監測漿料的粒度變化
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內容聲明：
您訪問的高分辨納米粒度和zeta電位分析儀產品信息，由儀思奇（上海）儀器有限公司自行發布提供，產品價格為面議，如您想了解更多關于高分辨納米粒度和zeta電位分析儀型號、參數、用途等信息，歡迎咨詢。
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