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日立是一家全球性的日立公司，通過互聯材料分析解決方案幫助我們的客戶變得更加成功和可持續，這些解決方案使生產和開發過程更加高效、自動化和綠色，以確保產品質量、安全性和合規性。我們提供實驗室級和強大高性能現場檢測設備如光電直讀光譜儀、X射線熒光光譜（XRF）、X熒光測厚儀（鍍層測厚儀）、激光誘導擊穿光譜儀（LIBS）、熱分析儀、鋰電池異物分析儀、油品分析儀、土壤分析儀等。
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日立HD-2700球差校正掃描透射電子顯微鏡產品參數
| 價格區間 | 3000萬-4000萬 | 儀器種類 | 場發射 |
| 應用領域 | 綜合 |
日立HD-2700球差校正掃描透射電子顯微鏡詳細信息
日立HD-2700球差校正掃描透射電子顯微鏡高分辨率掃描透射電子顯微鏡成像
HAADF-STEM圖像0.136 nm，FFT圖像0.105 nm(高分辨率鏡頭*)
HAADF-STEM圖像0.144 nm(標準鏡頭)
明場掃描透射電子顯微鏡圖像0.204 nm(w/o球差校正儀)
日立HD-2700球差校正掃描透射電子顯微鏡高速，高靈敏度能譜分析：探針電流×10倍
元素面分布更迅速及時
低濃度元素檢測
操作簡化
自動圖像對中功能
從樣品制備到觀察分析實現無縫連接
樣品桿與日立聚焦離子束系統兼容
配有各種選購件可執行各種評估和分析操作
同時獲取和顯示SE&BF, SE&DF, BF&DF, DF/EDX面分布*和DF/EELS面分布*圖像。
低劑量功能*(使樣品的損傷和污染程度降至低)
高精度放大校準和測量*
實時衍射單元*(同時觀察暗場-掃描透射電子顯微鏡圖像和衍射圖案)
采用三維微型柱旋轉樣品桿(360度旋轉)*，具有自動傾斜圖像獲取功能。
ELV-3000即時元素面分布系統*(同時獲取暗場-掃描透射電子顯微鏡圖像)
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內容聲明：
您訪問的日立HD-2700球差校正掃描透射電子顯微鏡產品信息，由上海斯邁歐分析儀器有限公司自行發布提供，產品價格為面議，如您想了解更多關于日立HD-2700球差校正掃描透射電子顯微鏡型號、參數、用途等信息，歡迎咨詢。
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