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移動端訪問更便捷ThetaMetrisis是一家私有公司,成立于2008年12月,位于希臘雅典,是NCSR'Demokritos'的微電子研究所的第1家衍生公司。ThetaMetrisis的核心技術是白光反射光譜(WLRS),它可以在幾埃到幾毫米的超寬范圍內,準確而同時地測量堆疊的薄膜和厚膜的厚度和折射率。
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產品簡介
| 價格區間 | 面議 | 應用領域 | 能源,電子/電池,制藥/生物制藥,綜合 |
介紹:
FR-uProbe-LC, 只需連接到大多數市售光學顯微鏡(反射率和/或透射率)的 C-Mount適配器,即可提供:
o 在顯微鏡支持的波長范圍內進行實時光譜測量
o 薄膜厚度、光學特性、不均勻性測量
o 使用集成、USB 連接的高分辨率和高質量彩色相機進行成像
o 不受顯微鏡本身性能影響
光斑尺寸(收集反射率或透射率信號的區域)由孔徑尺寸和物鏡放大倍率定義,可小至 2μm.
應用:
o 大學 & 研究實驗室
o 半導體(氧化物、氮化物、Si、抗蝕劑等)
o MEMS 器件(光刻膠、硅膜等)
o 液晶顯示器LED
o 數據存儲
o 陽極氧化
o 彎曲基材上的硬/軟涂
o 聚合物涂料、粘合劑等
o 生物醫學(聚對二甲苯、導管壁厚等)
o 聯系我們您的應用需求
特征:
o 單擊分析(無需初始值)
o 可以動態連續測量
o 測量n & k、顏色座標
o 數據庫內建 700 多種材料
o 用于離線分析的多個安裝
o 免費軟件更新
規格:

測量區域光斑(收集反射信號的區域)與物鏡和孔徑大小有關, 標準孔徑尺寸為:500μm(方形)、250μm(方形)、100μm(方形).250μm為默認孔徑值.可根據要求提供的其他孔徑尺寸:150μm(方形)和 50μm(方形).

測量原理:

關聯品牌
ThetaMetrisis是一家私有公司,成立于2008年12月,位于希臘雅典,是NCSR'Demokritos'的微電子研究所的第1家衍生公司。ThetaMetrisis的核心技術是白光反射光譜(WLRS),它可以在幾埃到幾毫米的超寬范圍內,準確而同時地測量堆疊的薄膜和厚膜的厚度和折射率。
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