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大塚電子從其創立之初就以光散射技術和分離技術為基礎，這些技術不僅是公司的技術根源，也是新材料分析的核心技術并以這些技術開發、生產和銷售好的產品。利用光散射技術的產品是大塚電子歷史最悠久的產品系列之一。在許多大學、機構和企業中，做為功能材料和新材料物性評估測量設備被高度評價。在接受各方面的建議和幫助下，不斷開發絕對分子量測定、微粒子粒徑測定和電位測定設備，并在各應用領域進行改進。同時，從基礎研究到質量控制的用途不斷擴大，在這一領域已經成為日本好的國產制造商，獲得了高的信任。

利用光散射作為新材料分析的核心技術，并將其應用于納米技術領域的物性測量。以粒子大小、電位和分子量的測量方法作為基準，拓展新材料、生命科學、高分子化學，以及半導體和醫藥等領域的應用。

Otsuka大塚電子晶圓薄膜測厚儀MCPD-9800為瞬間多通道分光器MCPD系列的高級機型，與本公司以往的機型相比，實現了寬動態范圍、低雜散光功能、以及更高速、更高再現性。適于高精度紫外定量評估、量子效率測量、在線測量為首的所有高精度測光系統。分光測量的世界得到進一步擴展。

具有寬動態范圍，適合于全光束測量。

Otsuka大塚電子晶圓薄膜測厚儀搭載低雜散光功能，適用于UV評估和量子效率評估。與本公司舊機型相比，雜散光率只有五分之一。

最短5ms到65s*的曝光時間，適合于微弱光測量、高速測量、在線測量等廣泛的測量需求。

采用Scramble加擾光纖*2，實現高再現性。

輕量、緊湊的豎立式設計，與本公司以往舊機型相比，體積降低約60%!

發射光譜測量

透射/吸收光譜測量

反射光譜測量

熒光測量

物體顏色測量

光源顏色測量（色度、亮度、照度）

膜厚測量

等離子體發射光譜測量

代理銷售各類工業品:，USHIO牛尾（點光源）CCS西西愛視，AITEC艾泰克（光箱、光源、圓形環形光），LEIMAC 雷馬克、HOYA光源

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