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在過去27年中，Ionoptika已證明自己是高性能離子束技術(shù)的供應(yīng)商。從開發(fā)第一個(gè)碳富勒烯（C60）離子源（被廣泛認(rèn)為是一種優(yōu)秀的分析濺射工具）到開發(fā)第一個(gè)用于二次離子質(zhì)譜（SIMS）的金團(tuán)簇離子源，我們一直是該領(lǐng)域的先驅(qū)。
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GCIB 40離子束產(chǎn)品參數(shù)
| 供貨周期 | 現(xiàn)貨 |
GCIB 40離子束詳細(xì)信息
GCIB 40離子束
GCIB 40是一種40kV氣體團(tuán)簇離子束，產(chǎn)生團(tuán)簇離子聚焦束，用于需要對(duì)分子離子敏感的分析應(yīng)用。
GCIB在大程度地減少碎片和從表面去除完整分子方面具有與倫比的能力。在40千伏電壓下工作的GCIB40提供了
優(yōu)異的電離產(chǎn)率，進(jìn)一步增強(qiáng)了分子信號(hào)。
GCIB 40具有可選擇的簇大小，從單體到10000多個(gè)，斑點(diǎn)大小小于3μm，是分析完整分子離子的*工具，具
有高空間分辨率。
可在J105 SIM上使用，或作為選定第三方儀器的升級(jí)。
Applications
由于離子束和分子信號(hào)的丟失，有機(jī)樣品的SIMS分析通常會(huì)導(dǎo)致碎片。使用GCIB，可以減少損傷，以便對(duì)材料進(jìn)行分析和深度剖面。
然而，在近束能量(<40kV)下，GCIB的二次離子產(chǎn)額可能較低。在更高的能量下操作會(huì)產(chǎn)生更高的二次離子產(chǎn)率，同
時(shí)仍然保持低損傷特性。
下圖顯示了在分析有機(jī)樣品時(shí)，離子產(chǎn)額如何與束流能量成比例。盡管一次離子劑量保持不變，但來自Irganox 1010薄膜
的二次離子信號(hào)從20kV到40kV一次束能量增加了五倍以上。
同時(shí)，在所有的光束能量中，碎片幾乎保持不變。
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