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ZYGO公司是精密測量儀器和光學系統的專業設計和制造企業。總部位于美國的康涅狄格州，研發部門遍布全美及世界各地。ZYGO公司于2014年加入AMETEK(阿美特克)集團，成為超精密技術分部的一員。
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ZYGO 3D光學輪廓儀精特殊樣品適配方案產品參數
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
| 應用領域 | 化工,能源,建材/家具,汽車及零部件,綜合 |
ZYGO 3D光學輪廓儀精特殊樣品適配方案詳細信息
ZYGO 3D光學輪廓儀精特殊樣品適配方案
一、柔性薄膜樣品測量適配
（一）樣品特性與測量難點
柔性薄膜（如塑料薄膜、金屬箔片，厚度 5-50μm）易變形、褶皺，常規夾持易導致樣品拉伸，影響表面粗糙度、厚度測量精度；且部分薄膜透光性強，成像對比度低，難以捕捉表面細節。
（二）適配方案與操作
固定方式：選用真空吸附樣品臺（選配，型號 ZGP-ST01），吸附壓力設為 0.03-0.05MPa（根據薄膜厚度調整，薄膜用低壓力），使薄膜平整貼合臺面，避免褶皺；
光學調整：若薄膜透明，開啟軟件 “偏振光 + 增強對比度” 功能，調整光源亮度至 80%（常規 50%），提升表面紋理成像清晰度；
參數設置：選 20X 物鏡（平衡范圍與精度），掃描范圍 1mm×1mm，數據點密度 800 點 /mm2，掃描速度調慢至 0.5 秒 / 幀（減少氣流對薄膜的擾動）。
（三）應用案例
測量 PET 薄膜表面粗糙度（要求 Ra≤0.05μm）：吸附固定后掃描，軟件清晰捕捉薄膜表面微小凸起，計算 Ra=0.042μm，符合要求；若未用真空吸附，薄膜褶皺導致 Ra 測量值偏差達 0.02μm。
二、磁性零件樣品測量適配
（一）樣品特性與測量難點
磁性零件（如永磁體、電磁鐵芯）表面磁場易干擾光學系統中的金屬部件（如物鏡支架），導致光路偏移，影響測量精度；且零件表面可能殘留鐵屑，干擾成像。
（二）適配方案與操作
磁場屏蔽：在樣品臺與設備主體間加裝坡莫合金屏蔽板（厚度 2mm，型號 ZGP-SH01），削弱磁場對光學系統的影響；
樣品清潔：測量前用無磁毛刷清掃零件表面鐵屑，再用無水乙醇擦拭，避免雜質附著；
參數校準：更換磁性樣品后，用標準臺階樣板（非磁性材質，已知高度 0.5mm）重新校準，確保垂直測量誤≤0.01μm；
硬件選擇：選 5X 或 10X 物鏡（低倍物鏡金屬部件少，受磁場影響小），避免用 50X 高倍物鏡（精密部件多，易受干擾）。
（三）應用案例
測量電磁鐵芯臺階高度（設計值 0.8mm）：經屏蔽與校準后，實測值 0.802mm，偏差 0.002mm；未屏蔽時，磁場導致偏差達 0.01mm，超出合格范圍。
三、透明脆性樣品測量適配
（一）樣品特性與測量難點
透明脆性樣品（如玻璃鏡片、陶瓷薄片）易因夾持力過大碎裂，且透明材質易產生光反射，導致干涉信號紊亂，影響厚度、平整度測量。
（二）適配方案與操作
夾持方式：用硅膠材質柔性夾具（硬度 50 Shore A），夾持力控制在 5-10N（通過夾具調節螺絲微調），避免樣品受力碎裂；
光學優化：在樣品底部墊黑色吸光襯墊（厚度 1mm，型號 ZGP-LN01），減少底面反射光干擾；軟件選擇 “透明樣品專用算法”，增強層間信號識別；
參數設置：選 50X 物鏡（測厚度）或 10X 物鏡（測平整度），掃描范圍 0.5-2mm×0.5-2mm，數據點密度 1000 點 /mm2，確保捕捉層間細節。
（三）應用案例
測量石英玻璃薄片厚度（設計值 0.3mm）：墊吸光襯墊后，軟件清晰識別玻璃上下表面，實測值 0.301mm，偏差 0.001mm；未墊襯墊時，反射光干擾導致厚度測量偏差達 0.005mm。
四、適配通用注意事項
樣品預處理：無論何種特殊樣品，均需清潔表面（無油污、雜質），避免影響成像與數據；
分步測試：首測量特殊樣品時，先小范圍掃描（如 0.2mm×0.2mm），驗證參數與適配方案是否可行，再擴大掃描范圍；
數據對比：對同一特殊樣品重復測量 3 次，若數據偏≤0.01μm，說明適配方案穩定，可批量測量。
通過針對性適配方案，ZeGage Pro 可突破柔性、磁性、透明脆性樣品的測量限制，滿足更多非常規場景的 3D 形貌測量需求。
ZYGO 3D光學輪廓儀精特殊樣品適配方案
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您訪問的ZYGO 3D光學輪廓儀精特殊樣品適配方案產品信息，由北京儀光科技有限公司自行發布提供，產品價格為面議，如您想了解更多關于ZYGO 3D光學輪廓儀精特殊樣品適配方案型號、參數、用途等信息，歡迎咨詢。
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