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產品簡介
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,化工,能源,綜合 |
日本大塚電子Otsuka總光譜光通量測量系統
日本大塚電子Otsuka總光譜光通量測量系統
產品信息
特 點
使用的光譜儀實現高精度測量
精度高的原因
● 使用的高性能多通道光譜儀(型號:MCPD)對光譜進行解析
● 可獲取較多的透過率信息 實現高精度測量
(獲得的透射率信息約為 500 波長,是其他公司產品的約50 倍)。



超高相位差測量-超雙折射薄膜可高速、高精度測量

軸角度補正功能-即使樣品放置有偏離,也可輕松、再現性良好的進行測量

便捷的軟件-極大縮短測量時間與處理時間,操作性大幅UP

產品規格
測量項目(薄膜、光學材料) | 相位差(波長分散)、慢軸、RTH*1、3次元折射率*1等 |
|---|---|
測量項目(偏光片) | 吸收軸、偏光度、消光比、各種色度、各種透過率等 |
測量項目(液晶cell) | cell gap、預傾角*1 、扭曲角、配向角等 |
位相差測量范圍 | 0~60,000nm |
相位差重復性 | 3σ≦0.08nm(水晶波長板 約600nm) |
cell gap 測量范圍 | 0~600μm(Δn=0.1時) |
cell gap 重復性 | 3σ≦0.005μm(cell gap 約3μm、Δn=0.1時) |
軸檢測重復性 | 3σ≦0.08°(水晶波長板 約600nm) |
測量波長范圍 | 400~800nm(其他可選) |
檢測器 | 多通道光譜儀 |
測量徑 | φ2㎜(標準規格) |
光源 | 100W halogen lamp |
數據處理部 | 個人計算機、顯示器 |
樣品臺尺寸:標準 | 100㎜×100㎜(固定樣品臺) |
option | ·超高相位差測量 |
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大塚電子主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相關材料的光學特性評價?檢查。以高速?高精度?高可靠性且有市場實際應用的分光器MCPD系列為基礎,在中國的顯示器市場上有著20年以上銷售實例,為許多廠家在研究開發、生產部門所使用。并且在光源?照明相關方面,對國家級研究機構、各個廠家的銷售量在逐步擴大。
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