HINDS Exicor GEN 大幅面雙折射光學測量儀

HINDS Exicor GEN 大幅面雙折射光學測量儀

是專為大尺寸光學材料檢測打造的專業設備，核心基于 Exicor 低級雙折射測量技術與精密自動化運動控制元件，可實現大幅面樣品的高精度雙折射檢測。

系統可掃描區域達 1150mm×1375mm，GEN5 等型號采用高張力鋼絲網載臺，樣品可測量區域，同時減少樣品下垂與彎曲，保障檢測精度。設備支持可選的高速 Scan In Motion™（SIM）選項，可大幅縮短檢測時間，最快僅需 12 分鐘即可完成樣品表征，提升檢測效率。

系統與早期 generation 型號兼容，設計可擴展至更大尺寸材料，同時適配非顯示材料應用，如低技術含量片材、商業窗玻璃等。設備搭載 PEMLabs™光彈性調制器與 Signaloc™鎖相放大器，延遲分辨率達 0.001nm，重復性 ±0.008nm，角分辨率 0.01°，重復性 ±0.05°，可同時測量雙折射大小與角度，支持雙軸晶格的 2D/3D 圖形可視化，直觀呈現檢測結果。