Jandel Engineering 推出的Jandel微型卡槽探針，專為 AIT 設備量身打造，配備 6-32 或 M3 標準安裝孔，既可直接匹配 AIT 測試系統，也可用于客戶自制支架平臺，安裝靈活、通用性強。該Jandel微型卡槽探針在結構上與 Napson、Kokusai 設備用定位鍵款探針相似，現場使用需注意區分，避免混用影響測試精度。

產品采用高精度機械制造工藝，針尖曲率半徑、針距、平面度均經視頻檢測系統與光學干涉儀嚴格驗證，探針壓力由電子測力計精準校準，確保一致性與可靠性。每根探針均配置上下雙寶石導針套，運行順滑、磨損小、使用壽命長。

探針為線性排列，間距覆蓋 0.635mm、1.00mm、1.27mm、1.591mm，公差 ±10μm；探針頭標配碳化鎢材質，直徑 0.4mm，密集排布可選 0.3mm，也可提供 50% 鋨合金版本，滿足高耐磨與特殊測試需求。針尖半徑 12.5–500μm 多檔可選，平面度 ±0.025mm 及以上，針尖壓力 10g–250g 可調，500V 下針間絕緣電阻達 1013Ω，漏電極低、測試穩定。