英國 Jandel 用于霍爾測量的薄型探針，是專為霍爾效應四探針測試設計的高精度專用探頭，采用薄型化結構，總高度僅 18.5mm，可直接安裝在磁體兩極之間使用，適配狹小空間下的霍爾測量需求。該Jandel 用于霍爾測量的薄型探針遵循嚴苛制造標準，針尖半徑、間距、平行度與平面度均通過視頻檢測系統及光學干涉儀完成全參數驗證，探針壓力由電子測力計精準標定，確保機械一致性與測試穩定性。

產品采用 2.00mm 矩形標準排列，針距公差 ±20μm；探針頭采用直徑 1.0mm 碳化鎢材質，針尖曲率半徑固定 100μm，硬度高、耐磨性好，可有效保護樣品表面。探針平面度優于 ±0.025mm，緩沖區 1.5mm，針尖壓力固定 250g，壓力穩定、接觸可靠，滿足高精度電學測試要求。每根探針均配置上下寶石軸承導向器，導向順滑、摩擦小、壽命長，可長期穩定運行。

電氣性能方面，在 500V 測試電壓下，探針間絕緣電阻可達 1013Ω，漏電極低，有效避免信號干擾，確保霍爾遷移率、載流子濃度等關鍵參數測量準確。產品專為專業霍爾測量場景設計，不提供磁體等配套設備，適用于半導體材料、薄膜、晶圓及功能材料的霍爾效應與電學特性測試。

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