• HC 系列（標準同軸型）：通用室溫測試夾具，結構穩定，適配常規器件室溫電學特性測量。

• HTC 系列（三軸型）：針對低噪聲、低泄漏測量優化，弱信號測試場景更穩定。

  夾具支持器件背面偏壓標記，可對垂直型功率器件進行室溫測試，覆蓋 2/4/6/8/12 英寸全主流晶圓規格。

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核心性能與優勢

• 多尺寸全覆蓋：2/4/6/8/12 英寸規格齊全，適配主流晶圓尺寸

• 雙版本可選：標準同軸型與低噪聲三軸型，滿足不同測試精度需求

• 功能針對性強：專為器件背面偏壓標記、垂直器件測試優化

• 低泄漏設計：三軸型適合低噪聲、弱信號精密測量

• 室溫穩定運行：專為室溫環境設計，長期使用性能可靠

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典型應用場景

• 半導體器件室溫電學特性測試

• 肖特基二極管等器件背面偏壓標記工藝

• 垂直結構功率器件室溫可靠性驗證

• 晶圓級芯片室溫量產抽檢

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核心規格一覽