BRUKER布魯克 干涉顯微鏡 Contour X-500 

BRUKER布魯克 干涉顯微鏡 Contour X-500 

入門(mén)級(jí)臺(tái)式白光干涉顯微鏡 ContourX-100

ContourX-100 是一款精簡(jiǎn)型設(shè)備，融合了布魯克數(shù)十年來(lái)在創(chuàng)新型白光干涉測(cè)量 (WLI) 技術(shù)方面的專(zhuān)業(yè)經(jīng)驗(yàn)，可提供毫不妥協(xié)的 2D/3D 高分辨率測(cè)量能力。這款配備量規(guī)的臺(tái)式系統(tǒng)擁有直觀(guān)易用的界面，可輕松訪(fǎng)問(wèn)豐富的預(yù)設(shè)濾波和分析功能庫(kù)，適用于精密加工表面、厚膜、摩擦學(xué)應(yīng)用等多種應(yīng)用，從而快速提供高精度測(cè)量數(shù)據(jù)。

靈活的表面紋理測(cè)量功能：臺(tái)式白光干涉顯微鏡 ContourX-200

ContourX-200 光學(xué)輪廓儀是一款 的高速、高精度、可重復(fù)性高的非接觸式三維表面輪廓測(cè)量系統(tǒng)， 融合了優(yōu)良的表征功能、可定制選項(xiàng)和易用性。這款緊湊型系統(tǒng)配備了測(cè)量?jī)x，具有寬廣的測(cè)量范圍、500萬(wàn)像素?cái)?shù)碼相機(jī)和新型電動(dòng)XY平臺(tái)，可實(shí)現(xiàn)高分辨率的二維/三維測(cè)量。ContourX-200 由業(yè)界 的操作和分析軟件 Vision64 提供支持。

臺(tái)式白光干涉顯微鏡 Contour X-500，具備自動(dòng)化功能。

ContourX-500 光學(xué)輪廓儀是 的自動(dòng)化臺(tái)式系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)高速、非接觸式三維表面輪廓測(cè)量。該系統(tǒng)配備布魯克專(zhuān)有的傾斜/俯仰光學(xué)頭，能夠從各種角度進(jìn)行 可編程的表面輪廓測(cè)量，同時(shí) 限度地減少跟蹤誤差。ContourX-500 內(nèi)置量規(guī)，具 高的 Z 軸分辨率和精度，在節(jié)省空間、結(jié)構(gòu)緊湊的機(jī)身中，具備布魯克白光干涉 (WLI) 立式輪廓儀的所有優(yōu)勢(shì)。

TTM

力學(xué)性能評(píng)價(jià)

PEEForce QNM

相位，摩擦

力譜學(xué)

力調(diào)節(jié)

納米壓痕

力體積

接觸共振映射

AFM納米DMA

納米光刻與納米操控

進(jìn)入模式

電氣特性評(píng)估

Liftmode 和 Darklift

EFM

KPFM（AM 和 FM），Peakforce KPFM

C-AFM 和DCUBE-CAFM

TUNA & Peakforce TUNA & DCUBE-TUNA

PFM、DCUBE-PFM、DCUBE-CR-PFM和SS-PFM

供應(yīng)鏈管理與DCUBE-SCM

SSRM 和DCUBE-SSRM

sMIM 和Peakforce sMIM和DCUBE-SMIM

MFM 和扭轉(zhuǎn)共振 MFM

除此處列出的型號(hào)外，我們還提供其他模式和配件組合。詳情請(qǐng)聯(lián)系我們。

納米紅外光譜和原子力顯微鏡是兩種成熟的技術(shù)，它們被集成到一個(gè)系統(tǒng)中。

IconIR 的特點(diǎn)

光譜性能與 FTIR 光譜相關(guān)

具有 10 nm 空間分辨率的化學(xué)成像

表面靈敏度高，甚至可以檢測(cè)單層薄膜

的形狀屬性相關(guān)顯微鏡，得益于其獨(dú)特的 PeakForce 敲擊模式。

大型 AFM（空氣功能微站）類(lèi)別中性能的平臺(tái)

多種測(cè)量模式和豐富的配件。

布魯克不斷發(fā)展的納米紅外技術(shù)

應(yīng)用領(lǐng)域

聚合物材料

薄膜

半導(dǎo)體和電子材料

二維材料與等離子體激元學(xué)

其他的

環(huán)境科學(xué)

藥店

太陽(yáng)能電池

文化遺產(chǎn)

納米紅外光譜與傅里葉變換紅外光譜相關(guān)，使數(shù)據(jù)庫(kù)分析更容易。

實(shí)現(xiàn)了空間分辨率<10nm的化學(xué)成像和單層靈敏度。

通過(guò)對(duì)納米尺度特征的關(guān)聯(lián)觀(guān)察進(jìn)行多方面性能評(píng)估

索取產(chǎn)品目錄/下載

? 產(chǎn)品咨詢(xún)及問(wèn)詢(xún)

下一代納米級(jí)紅外光譜系統(tǒng)集成原子力顯微鏡 Dimension IconIR

備受期待的新一代納米級(jí)紅外光譜系統(tǒng)

——Dimension IconIR New

布魯克的原子力顯微鏡Dimension Icon，無(wú)論在國(guó)內(nèi)還是國(guó)際市場(chǎng)，都是安裝量的產(chǎn)品。

如今，它終于將布魯克的多項(xiàng)專(zhuān)有技術(shù)（例如PeakForce Tapping技術(shù)）與納米紅外光譜技術(shù)相結(jié)合。除了其成熟的機(jī)械和電學(xué)性能分析技術(shù)外，現(xiàn)在還可以在同一系統(tǒng)上進(jìn)行納米級(jí)紅外光譜分析。

產(chǎn)品咨詢(xún)與咨詢(xún)

nanoIR3 光譜（納米尺度紅外光譜系統(tǒng) AFM-IR）

無(wú)模型紅外光譜分析

Anasys nanoIR3

這款高分辨率多功能測(cè)量系統(tǒng)集成了原子力顯微鏡 (AFM)、脈沖可調(diào)諧激光器和熱探針，可實(shí)現(xiàn)亞10納米空間分辨率范圍內(nèi)的紅外光譜局部分析、紅外吸收?qǐng)D譜、AFM圖像、表面硬度圖像和熱分析。其特點(diǎn)包括： • 采用波數(shù)

與傅里葉變換紅外光譜 (FT-IR) 高度相關(guān)的

量子級(jí)聯(lián)激光器/光參量振蕩器 (QCL/OPO) ，并針對(duì)特定應(yīng)用的光譜分析進(jìn)行定制。

• FASTSpectra 技術(shù)不僅可以獲得點(diǎn)光譜，還可以實(shí)現(xiàn)高速全光譜

成像

。• 與之前的微型傅里葉變換紅外光譜 (micro-FT-IR) 系統(tǒng)相比，分辨率顯著提高。

• 新型輕敲式原子力顯微鏡 (Tapping AFM) 可提供分辨率為10納米的化學(xué)成像。

掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡 (S-SNOM

) Anasys nanoIR3-s

該系統(tǒng)具備與 nanoIR3 相同的規(guī)格，并新增了散射近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡 (s-SNOM) 功能。它能夠以 10nm 或更低的空間分辨率進(jìn)行光學(xué)特性成像，是分析石墨烯、二維材料和納米天線(xiàn)等無(wú)機(jī)材料的理想解決方案。該系統(tǒng)與原子力顯微鏡-紅外光譜儀 (AFM-IR) 的集成使其應(yīng)用范圍廣泛，涵蓋有機(jī)和無(wú)機(jī)分析。主要特點(diǎn)

包括：• 除 AFM-IR 外，還具備 s-SNOM 功能

• 提供與 AFM-IR 相同 10nm 分辨率的 s-SNOM 圖像

• 適用于無(wú)機(jī)和半導(dǎo)體應(yīng)用

掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡（S-SNOM 寬帶） 新型Anasys nanoIR3-s 寬帶

布魯克 nanoIR3-s Broadband 是一款基于散射型近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡 (s-SNOM) 技術(shù)的優(yōu)良納米級(jí)傅里葉變換紅外光譜系統(tǒng)，利用寬帶紅外光 (670–4,000 cm?1) 提供業(yè)界的高分辨率納米化學(xué)和納米光學(xué)成像。其主要特點(diǎn)包括：

寬帶紅外光譜測(cè)量和高分辨率納米化學(xué)成像；

針對(duì)二維/石墨烯材料的高質(zhì)量光譜測(cè)量和成像；

納米級(jí)材料特性映射技術(shù)以及多種樣品環(huán)境控制選項(xiàng)。