OTSUKA 大塚電子  納米粒徑分析儀  nanoSAQLA

OTSUKA 大塚電子  納米粒徑分析儀  nanoSAQLA

nanoSAQLA 是日本大塚電子推出的臺式動態光散射（DLS）納米粒徑分析儀主機，主打 “非浸入式、多樣品、寬濃度、防污染”，可獨立使用或搭配 AS50 自動采樣器組成高通量系統。

這是一種顆粒尺寸測量系統（顆粒尺寸0.6 nm - 10 μm*），采用“動態光散射法”（DLS方法）。
還包含了多種功能以進一步提升質量控制。
該系統測量速度極快（約1分鐘），且體積輕便緊湊，這對實驗室使用至關重要，該新型光學系統能夠依序測量多個樣品，濃度范圍從稀釋到濃縮。

此外，它是新產品，未浸泡在液體中（非浸入式），因此不會有污染問題，使用時最多可測量5個樣品而不中斷。
經直方圖分析的最小值：0.2納米

■nanoSAQLA的特點

• 簡單快速的一次性設置，最多可采集5個樣品，且在不同條件下使用。

• 測量稀釋和高濃度樣品

• 測量時間大約為1分鐘+。

• 包含溫度梯度函數

• 無污染連續測量

• 顆粒尺寸范圍：0.6 nm-10 μm*

• 適用濃度范圍 0.00001-40%

• 溫度范圍 0-90°C
  直方圖分析后最小值：0.2 nm