核心優勢1：自主研發的薄片激光技術實現了大視野成像，對比傳統裝置將觀測視野擴大至275倍，即使在低濃度范圍(1萬～1000萬個/ml)下，仍可實現穩定觀測與精確測量。其中BLASE X型號可實現數量濃度高達10億個/ml的測量(10萬個～10億個/ml)。

核心優勢2：利用區域劃分算法，將大視野分割為多個觀測區域同時測量，獲取多個平行樣本數據，可精確評估氣泡粒徑的分布均勻性。

BLASE系列納米顆粒和納米氣泡測量裝置

一、BLASE系列裝置介紹

二、產品的技術優勢

三、大視野成像

1、觀測視野的差異

2、低濃度粒子測量

PSL標準粒子100nm 1?　1.8×10⁵(10萬個)的拍攝畫面

3、中～高濃度粒子測量

PSL標準粒子100nm 1?　2×10⁷(2000萬個)的拍攝畫面

四、多區域觀測

五、ＦＢＩＡ(日本微納米氣泡產業會)標準

六、納米氣泡測量的比色皿

七、納米氣泡測量過程

1、數量濃度的測量畫面

2、粒徑的測量方法

3、粒徑的測量畫面

4、測量數據報告

八、售后服務解決方案

1、安裝調試與培訓

- 專業人員安裝調試，確保設備最佳運行狀態。

- 提供全面的設備操作及維護保養培訓。

2、服務響應時效

- 7*12小時提供咨詢、售后熱線服務。

- 1小時內極速響應，48小時內遠程診斷故障，72小時內出具故障修復方案。

3、設備維修服務

- 軟件：實施遠程修復故障及系統升級。

- 硬件：上門維修或返廠維修或更換硬件（耗材除外）。

- 質保期內免費維修服務，終身技術支持。

九、認證與獎項

1、FBIA：納米氣泡測量裝置Lab認證