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產品簡介
| 應用領域 | 化工,建材/家具,電子/電池,電氣,綜合 |
工業OTSUKA大塚 RETS-100nx 遲滯測量裝置
工業OTSUKA大塚 RETS-100nx 遲滯測量裝置
RETS-100nx 型遲滯測量裝置
這款延遲測量裝置兼容所有類型的薄膜,包括OLED偏光片、層壓相位差膜以及IPS LCD相位差膜偏光片。
它具有超高的Re值和60000nm分辨率,可實現高速、高精度的測量。
它能夠“無損地測量”薄膜的層壓狀態,無需剝離薄膜。
此外,它還配備了易于使用的軟件和校正功能,可補償因重新定位樣品而引起的偏移,從而實現簡便而高精度的測量。
產品信息
規格
光學系統
產品信息
特征
我們獨特的光譜儀實現了高精度測量。
■ 高精度
通過多波長測量實現高精度
。<高精度原因> -采用
獨特的高性能多通道光譜儀。 - 通過獲取大量透射率信息 (可獲取約 500 個波長的透射率信息,約為其他公司產品的 50 倍),
實現高精度測量。
■ 寬測量范圍(延遲范圍:0 至 60000 nm)
■ 理解延遲波長色散形狀
超高延遲測量——實現超雙折射薄膜的高速、高精度測量——
■ 高延遲
多層測量 - 無需剝離即可對各種薄膜的層壓狀態進行無損測量。
軸角校正功能——即使樣品未對準,也能輕松實現可重復的測量——
■ 將樣品重新定位10次,并比較有無角度校正兩種情況下的結果。
[樣品:相差膜R85]
易于使用的軟件——顯著縮短測量和處理時間,大幅提升易用性。
產品信息
規格
光
規格
規格
模型 RETS-100nx 型遲滯測量裝置
測量項目(膠片、光學材料) 延遲(波長色散)、慢軸、Rth * 1、3D折射率*1等。
測量項目(偏光片) 吸收軸、偏振度、消光比、各種色度、各種透射率等。
測量項目(液晶盒) 細胞間隙、預傾角*1、扭轉角、取向角等。
延遲測量范圍 0 至 60,000 納米
延遲重復性 3σ≦0.08nm(晶體波片約600nm)
細胞間隙測量范圍 0 至 600 μm(當 Δn = 0.1 時)
細胞間隙重復性 3σ ≤ 0.005 μm(當細胞間隙約為 3 μm 且 Δn = 0.1 時)
軸檢測重復性 3σ≦0.08°(晶體波片,波長約600nm)
測量波長范圍 400-800nm(另有其他選項)
探測器 多通道光譜儀
測量直徑 φ2mm(標準規格)
光源 100瓦鹵素燈
數據處理單元 個人電腦,顯示器
舞臺尺寸:標準 100mm x 100mm(固定平臺)
選項 • 超高延遲測量
• 多層測量
• 軸角補償功能
• 自動XY平臺
• 自動傾斜和旋轉平臺
*1 需要自動傾斜和旋轉平臺(可選)。
我司代理及優勢品牌一覽明細:
代理品牌:CCS晰寫速SEN日森、EYE巖崎、REVOX萊寶克斯、SERIC索萊克
SONIC索尼克、SANKO三高、NEWKON新光、HAYASHI 林時計、NPM日脈
NS日本科學、DRY-CABI東利繁、TOKISANGYO東機
SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山、Kakuhunt寫真化學、NIPPON GEAR日本齒輪
NIDEC尼得科、MIYACHI天田、TORAY 東麗 watson沃森 DIC迪愛生 INNODIS 一諾迪思 ARLIN艾阿爾
優勢品牌:USHIO牛尾、TOPCON拓普康、TAKASAG代理O高砂、FUNATECH船越龍、ORC歐阿西
SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂詰、TORAY東麗、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU電色、KKIMAC
S-VANS斯萬斯、ORIHARA折原、LUCEO魯機歐、HIKARIYA光屋、YAMADA山田光學
AND艾安得、T&D天特、JIKCO吉高、DKK-TOA東亞電波、OKANO岡野、ANRITSU安立計器
IMV艾目微、MITUTOYO三豐、KYOWA共和、ONOSOKKI小野、SANEI三榮、HEIDON新東科學KURABO倉紡、SHOWA昭和、THINKY新基、AIKOH愛光、SEM坂本電機
SURUGA駿、SANSYO三商、ITOH伊藤、NAGARISHI成茂、
RKC理化、MACOME碼控美、EIWA榮和、EXCEL艾庫斯、YODOGAWA淀川等
優勢產品:日本紫外線照度計、紫外線裝置燈管、LED視覺光源、表面檢查燈、手持檢測燈
變色燈箱、色差儀、鹵素光源裝置、氧氣濃度計、焊接機、應力表面檢查儀、LED光源機、電子天平、粘度計、膜厚計、恒流泵、采樣泵、PH計、水分計、地震測試儀、脫泡攪拌機、壓力傳感器、氣體檢測儀、接近開關、拉拔機、異音檢測儀、應變測試儀、拉針儀、水平測試儀等
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