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PHENOMWORLD于2009年成立，專注于臺式掃描電鏡的研究與開發，不斷投資、研發和完善Phenom（飛納）臺式掃描電鏡產品和相關配件。
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薄膜材料表面缺陷分析用飛納產品參數
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 化工,包裝/造紙/印刷 |
| 高級模式 | 4.8 kV - 20.5 kV 連續可調 | 探測器 | 背散射探測器 |
| 可選探測器 | 二次電子探測器、能譜探測器 |
薄膜材料表面缺陷分析用飛納詳細信息
Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡，可用于薄膜材料表面缺陷分析，幫助觀察劃痕、顆粒、孔洞和結構特征。
Phenom XL G3 平均成像時間約 40 秒，可對最大 100 x 100 mm 的樣品進行分析，適合較大尺寸樣品或多樣品檢測場景。設備采用 CeB6 燈絲，電子光學放大倍數可達 200,000 X，分辨率優于 8 nm，適用于日常質檢、研發分析、失效分析和樣品測試等應用。
該產品具備大倉室樣品臺、低/中/高三種真空模式、背散射探測器，并可根據需求選配二次電子探測器和能譜探測器。具體配置和價格根據型號、功能及應用需求確定，可通過平臺詢價/留言入口獲取選型建議，并預約試樣。
產品特點：
1. 大倉室設計，可分析最大 100 x 100 mm 樣品。
2. 平均成像時間約 40 秒，適合多樣品觀察和日常檢測。
3. 電子光學放大倍數可達 200,000 X，分辨率優于 8 nm。
4. 采用 CeB6 燈絲，使用壽命優于 3000 小時。
5. 支持低、中、高三種真空模式，適合多類材料樣品。
6. 標配背散射探測器，可選配二次電子探測器和能譜探測器。
7. 臺式設計，適合實驗室日常部署與使用。
8. 支持選型咨詢，可預約試樣。
應用領域：
可用于薄膜材料表面缺陷分析、高分子薄膜檢測、包裝材料觀察、表面形貌分析和質量控制。
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移動站：薄膜材料表面缺陷分析用飛納
內容聲明：
您訪問的薄膜材料表面缺陷分析用飛納產品信息，由復納科學儀器（上海）有限公司自行發布提供，產品價格為面議，如您想了解更多關于薄膜材料表面缺陷分析用飛納型號、參數、用途等信息，歡迎咨詢。
該內容的真實性、準確性和合法性由發布會員負責，為保障安全，建議您在購買相關產品前務必確認供應商資質以及產品質量！
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