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| 面議 |
Phenom/飛納電鏡
生產廠家
Phenom ProX G7
85
上海市
2026/7/16 17:26:03
產品簡介
| 背散射電子圖像分辨率 | 優于 6 nm | 產地類別 | 進口 |
| 二次電子圖象分辨率 | 6nm | 放大倍數 | 350,000x |
| 加速電壓 | 基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kVkV | 應用領域 | 電子/電池,鋼鐵/金屬 |
| 電子槍 | CeB6 燈絲,使用壽命優于 3000 小時 | 高級模式 | 4.8 kV - 20.5 kV 連續可調 |
| 探測器 | 背散射探測器、能譜探測器 |
Phenom ProX G7 是飛納推出的臺式掃描電鏡能譜一體機,可用于第三方檢測中的多類樣品形貌觀察和元素分析。
Phenom ProX G7 電子光學放大倍數可達 350,000 X,分辨率優于 6 nm,采用 CeB6 燈絲,并集成掃描電鏡成像與能譜分析能力,適合形貌觀察、微區元素分析和材料研發檢測。
該產品適合高校實驗室、企業研發中心、第三方檢測機構及工業質檢場景。具體配置和價格根據樣品類型、探測器配置、能譜分析需求及服務方案確定,可通過平臺詢價/留言入口獲取選型建議,并預約試樣。
產品特點:
1. 臺式掃描電鏡與能譜分析能力結合。
2. 電子光學放大倍數可達 350,000 X。
3. 分辨率優于 6 nm,適合常規材料微觀形貌觀察。
4. CeB6 燈絲壽命優于 3000 小時。
5. 支持高/低真空模式。
6. 標配背散射探測器和能譜探測器,可選配二次電子探測器。
7. 適合顆粒、異物、缺陷區域和材料微區成分分析。
8. 支持選型咨詢,可預約試樣。
應用領域:
可用于第三方檢測、樣品形貌觀察、異物分析、元素分析、材料失效分析和質量控制。
技術參數:
產品型號:Phenom ProX G7
產品全稱:ProX 電鏡能譜一體機
產品類型:臺式掃描電鏡能譜一體機
光學放大:27 - 160 X
電子光學放大:350,000 X
分辨率:優于 6 nm
電子槍:CeB6 燈絲,使用壽命優于 3000 小時
光學導航相機:彩色
加速電壓:基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV
高級模式:4.8 kV - 20.5 kV 連續可調
真空模式:高 / 低真空
探測器:背散射探測器、能譜探測器
可選探測器:二次電子探測器
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