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| ¥230000 |
| ≥1臺 |
KOSAKA/小坂研究所
代理商
SE500pro-58D
5
四川成都市
2026/7/27 9:25:46
產品簡介
| 產地類別 | 進口 | 產品種類 | 接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
| 價格區間 | 20萬-35萬 | 應用領域 | 電子/電池,電氣,綜合,半導體,機械設備 |
日本進口小坂研究所表面粗糙度儀 SE500pro-58D
日本進口小坂研究所表面粗糙度儀 SE500pro-58D
【高精度測量+Z軸升降】
SE500pro-58D在標準SE500pro基礎上增加了Z軸250mm升降行程,可適應不同高度工件的測量需求。真直度精度0.3μm/55mm,Z軸檢測范圍800μm,分辨率達到0.04nm,在便攜式現場測量設備中具備較高的精度水平。
【一鍵判定+ProKey自由編程】
與SE500pro標準型一樣,SE500pro-58D同樣搭載一鍵測量與紅藍色彩合否判定功能。ProKey支持自由布局,每位操作員均可創建專屬操作面板,通過USB即插即用,提升操作效率的同時降低共用設備帶來的衛生風險。
【平板聯動+實時分析】
支持平板電腦移動解析,品證人員可在現場實時完成數據分析和判定,縮短從測量到反饋的周期。測量結果自動保存,文件名自動包含OK/NG判定結果及時間戳,防止數據篡改。
【膜厚/段差測量功能】
SE500pro系列通過軟件切換可化身膜厚計/段差計,支持反翹、翹曲、波紋等復雜表面形狀的測量。這一功能使其在半導體晶圓、顯示屏面板、LED基板及新材料研發等領域的應用更加廣泛。
【Check Port省空間設計】
配備Check Port立式收納結構,可有效利用縱向空間,在有限的作業區域中創造出額外的操作空間,適合空間緊湊的測量室和生產線布局。
技術規格參數表
| 參數項目 | SE500pro-58D |
|---|---|
| X軸行程 | 55 mm |
| 真直度精度 | 0.3 μm / 55 mm |
| Z軸升降行程 | 250 mm |
| Z軸檢測范圍/分辨率 | 800 μm / 0.04 nm |
| 測量速度 | 0.05 - 2.00 mm/s |
| 移動速度 | 0.05 - 9.00 mm/s |
| 適用標準 | JIS(2013/94/82)、DIN、ISO、ASME |
| 檢測器 | PU-A4、觸針交換式(標準R2μm 60°) |
| 支持OS | Windows(平板/筆記本/臺式機) |
| 特點 | Z軸升降、膜厚/段差測量功能 |
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