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| ¥86000 |
| ≥1臺 |
KOSAKA/小坂研究所
代理商
PU-OS501W
6
四川成都市
2026/7/27 11:25:55
產品簡介
| 價格區間 | 5萬-10萬 | 應用領域 | 環保,電子/電池,綜合,半導體,機械設備 |
日本進口小坂研究所非接觸檢測器 PU-OS501W
日本進口小坂研究所非接觸檢測器 PU-OS501W
【非接觸測量,不損傷樣品】
PU-OS501W采用激光非接觸測量方式,檢測器與樣品之間無物理接觸。這一設計消除了觸針式測量對柔軟材料(如薄膜、橡膠、膠帶等)表面產生劃痕或壓痕的風險,也避免了硬質材料表面的觸針磨損問題。對于半導體晶圓、光學鏡片等不允許接觸的高價值樣品,非接觸測量是理想的解決方案。
【高速測量,無機械滯后】
該檢測器通過檢測激光焦點位置的偏移量來測量表面高度變化,內部無機械式形狀追従機構(即無移動部件)。這一設計消除了機械慣性帶來的測量滯后,實現了高速測量,大幅縮短了掃描時間,提升了批量檢測效率。
【三種測量模式,靈活切換】
PU-OS501W支持三種測量模式的切換:
精密模式:量程12μm,分辨率0.2nm,適合超高精度微小段差測量
寬量程模式:量程30μm,分辨率0.5nm,適合一般高精度測量
AF模式:量程30~500μm,分辨率0.5nm,適合較大段差和形狀測量
用戶可根據測量需求靈活切換模式,在精度和量程之間取得最佳平衡。
【激光功率20檔可調,低反射率也可測量】
激光功率可在20個級別中調節,即使是低反射率的工件(如黑色橡膠、碳纖維等)也可獲得穩定的測量信號。這一特性大幅擴展了可測材料的范圍。
【自動對焦,操作便捷】
搭載Auto-Stop自動對焦功能,檢測器可自動移動至焦點位置,無需手動調焦操作。降低了操作門檻,減少了因對焦不準導致的測量誤差。
【緊湊光學設計,內徑測量成為可能】
通過緊湊的光學配置,傳統非接觸檢測器難以實現的管道內徑表面性狀測量,PU-OS501W亦可輕松應對。
技術規格參數表
| 參數項目 | PU-OS501W(Crispy) |
|---|---|
| 測量模式 | 精密模式 / 寬量程模式 / AF模式 |
| 測量范圍 | 12μm(精密)/ 30μm(寬量程)/ 30~500μm(AF) |
| 分辨率 | 0.2nm(精密)/ 0.5nm(寬量程)/ 0.5nm(AF) |
| 測量光斑直徑 | 約1~10μm(精密)/ 約1~25μm(寬量程)/ 約1μm(AF) |
| 測量精度 | 1%+0.03μm / 1%+0.2μm / 1%+0.1μm |
| 重復性 | 10nm(精密)/ 20nm(寬量程/AF) |
| 工作距離(WD) | 1.5 mm |
| 激光波長 | 635 nm |
| 激光最大輸出 | 2 mW |
| 激光安全等級 | Class1(JIS C 6802:2011) |
| 可測反射率 | 4%以上 |
| 可測傾斜角 | X軸±25° / Y軸±5° |
| 質量 | 約250 g |
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