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半導體特性曲線分析儀Z大集極電流10A/pulse 20A ,可測試高達2000V的掃描電壓和200pA/DIV的微小電流測 ,
半導體特性曲線分析儀可程式控制面板操作 (GPIB 標準介面),Z大集極電流10A(Pulse 40A),5A/DIV
半導體特性曲線分析儀Z大集極電流10A( Pulse 20A),2A/DIV,Z小集極電流200pA/DIV
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