HAD-TT180顯微顆粒圖像粒度儀是推出的新一代顆粒圖像分析設備，HAD-TT180采用最新的工業級顯微圖像采集系統，使樣品觀測更加清晰。分析軟件系統能夠對樣品的“單體數據"、“形態參數"、“整體分布"等參數進行分析和計算，可以輕松獲得樣品的整體分布規律的曲線圖和顆粒形態描述等豐富數據，是對各類顆粒樣品進行觀測和分析的專業儀器設備。配套的專業顆粒分析軟件根據多年來用戶的使用意見進行了更加人性化的升級和改進，由計算機自主分析出樣品各種等效粒徑、X、Y切線等“單體屬性"、以及包括長徑比、球型度在內的“形態參數"。再通過進一步計算得出此樣品的整體分布情況（包含整體分布曲線等豐富數據），軟件中還增加了多幅圖像拼接計算的模式，成倍增加了參與分析的顆粒數量，從而有效的保證了數據的代表性。最后可將樣品的數據以報告的形式輸出（包含有圖像范例、圖表、數據列表等），非常便于測試人員對測試結果進行管理和匯報。

HAD-TT180 顯微顆粒圖像儀技術參數及詳細配置

技術參數：

硬件參數
顯微系統	物鏡	4X、10X、40X、60X、100X（油）長距消色差（平場）物鏡組
	目鏡	1X、10X、16X 大視野攝像目鏡
	載物臺	手動三維機械式載物臺，尺寸：185mm×140mm，移動范圍：50mm×75mm，粗微同軸調焦，微動格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置
	光源	底部透射光源，6V 20W鹵素燈,亮度可調。可選頂部金相落射式光源（帶起偏振器）
總放大倍數	4倍——1600倍
輔助光源	鹵素光源
粒徑分析范圍	1μm～2000μm
攝像系統	最高分辨率	2048×1536
	像素尺寸	3.2μm×3.2μm
	成像元件	1/1.8英寸 progress scan CMOS

產品優勢

HAD-TT180顯微顆粒圖像儀作為專業的顆粒圖像分析儀器，是專為顆粒或顆粒相關行業設計開發的，它的突出優勢主要體現在以下方面：

1. 本產品不但可對樣品的顆粒單體進行科學描述，還可以將顆粒的分布情況使用數據、圖表等方式進行直觀表現。能夠獨立或輔助激光粒度儀等設備更好的進行顆粒測試工作。

2.數據直觀、易懂，分析結果一目了然：常見的顆粒測試儀器有激光粒度儀、沉降粒度儀等，但在進行顆粒檢測的同時還可觀測樣品形貌的直觀性優勢是其他所有顆粒測試設備所不具備的，這能夠使用戶更全面的了解顆粒的形貌、狀態、變化過程等信息。并且，對照直觀的樣品圖片，可以幫助用戶更好的理解報告中的數據含義。

3.應用廣泛，性價比高：“HAD-TT180顯微顆粒圖像儀"既可以作為一種觀測儀器，替代傳統顯微鏡進行各種樣品的觀測工作，又可以計算樣品的各項數據，操作直觀簡便，應用范圍十分廣泛。

說明：電子顯微鏡為選配，按客戶要求配置

顯微顆粒圖像粒度儀有什么優勢？

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