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高分子導(dǎo)電材料是微電子、柔性電子領(lǐng)域核心前沿賽道,精準(zhǔn)噻吩摻雜聚乙烯二維導(dǎo)電納米片的制備與表征,一直存在樣品前處理繁瑣、固體聚合物難直接質(zhì)譜定性、合成中間體難快速驗(yàn)證等痛點(diǎn)。德國(guó)馬克斯·普朗克聚合物研究所團(tuán)隊(duì)發(fā)表于《Polymer Chemistry》的重磅研究,采用 AIS expressionL CMS 質(zhì)譜儀(搭載 ASAP 大氣壓直接進(jìn)樣分析探頭)完成單體分子量精準(zhǔn)表征,僅用數(shù)十秒完成固體/油狀樣品直接檢測(cè),大幅縮短新材料研發(fā)周期,為高分子功能材料質(zhì)譜分析提供方案。
頂刊研究核心:可控自組裝二維導(dǎo)電有機(jī)納米片
傳統(tǒng)聚噻吩導(dǎo)電聚合物導(dǎo)電性?xún)?yōu)異,但剛性共軛骨架加工性極差;現(xiàn)有模板法、本體導(dǎo)電涂層法步驟繁瑣、表面導(dǎo)電層不連續(xù)。本研究創(chuàng)新采用 ADMET 非環(huán)二烯烴復(fù)分解聚合,精準(zhǔn)合成噻吩單元等距分布聚乙烯前驅(qū)體(TH20-m/TH38-m 單體、TH20/TH38 不飽和聚合物、氫化 TH20-H/TH38-H);溶液結(jié)晶驅(qū)動(dòng)自組裝,噻吩基團(tuán)自發(fā)遷移至片晶表面,再與 EDOT 氧化共聚,一步得到介電內(nèi)核、單原子超薄導(dǎo)電表層二維高分子納米片,可用于微納電子器件。
在整個(gè)研究流程中,單體與聚合物的確認(rèn)是決定成敗的關(guān)鍵。研究團(tuán)隊(duì)依靠 AIS ASAP-CMS 完成分子量確證,解決高分子油狀液體、固態(tài)聚合物直接質(zhì)譜檢測(cè)難題:
所有質(zhì)譜圖均在正離子模式下采集,質(zhì)荷比掃描范圍 m/z 10-2000,掃描速率 10000/秒。
二烯單體 TH20-m/TH38-m 定性粗產(chǎn)物經(jīng)柱層析純化后,直接蘸取少量油狀樣品于 ASAP 探針,無(wú)需稀釋、無(wú)需色譜分離,30 秒內(nèi)獲取質(zhì)譜數(shù)據(jù),精準(zhǔn)匹配理論分子量:TH20-m 實(shí)測(cè) m/z=388.1(理論388.7)、TH38-m 實(shí)測(cè) m/z=585.9(理論585.1),快速驗(yàn)證烷基化反應(yīng)成功,省去傳統(tǒng) LC-MS 冗長(zhǎng)前處理。

ASAP-CMS 解決方案:高分子材料專(zhuān)屬分析利器
從馬普所頂刊導(dǎo)電二維高分子研究實(shí)例可見(jiàn),AIS expressionL CMS 搭載 ASAP 大氣壓直接進(jìn)樣分析探頭,打破傳統(tǒng)質(zhì)譜對(duì)高分子樣品的限制,實(shí)現(xiàn)合成-表征一體化原位快速分析。無(wú)論是高校高分子課題組、材料企業(yè)研發(fā)中心,還是有機(jī)合成平臺(tái),一臺(tái)緊湊型臺(tái)式質(zhì)譜,即可解決單體驗(yàn)證、聚合監(jiān)測(cè)、改性產(chǎn)物定性、雜質(zhì)快速篩查全鏈條需求,助力功能導(dǎo)電高分子、有機(jī)納米材料產(chǎn)出高水平成果。
結(jié)合這篇頂刊應(yīng)用,AIS ASAP-CMS 適配高分子/有機(jī)合成實(shí)驗(yàn)室:
ASAP 無(wú)前處理直接進(jìn)樣,固/液樣品直接進(jìn)樣:無(wú)需溶解、無(wú)需色譜、無(wú)需制樣:油狀單體、固體結(jié)晶納米片,蘸取/刮取微量樣品即可上機(jī),30 秒出完整質(zhì)譜圖。針對(duì)聚乙烯、聚噻吩、聚磷酯等溶解性差高分子,突破 ESI/傳統(tǒng) LC-MS 瓶頸,熱脫附 APCI電離,完整捕獲單體分子離子峰。
多場(chǎng)景拓展,不止高分子合成:除精準(zhǔn)功能聚烯烴外,還可覆蓋:有機(jī)光電中間體、催化劑、TLC 薄層斑點(diǎn)直接鑒定、天然產(chǎn)物、藥物合成中間體、高分子添加劑快速篩查等。
加速新材料創(chuàng)新迭代:本研究中,大量中間體定性依托 ASAP-CMS 快速完成,團(tuán)隊(duì)可快速迭代噻吩間隔碳鏈長(zhǎng)度、優(yōu)化氧化共聚條件,快速對(duì)比TH20-H與TH38-H結(jié)晶、導(dǎo)電性能差異,縮短數(shù)月研發(fā)周期。
降低多表征聯(lián)動(dòng)成本:搭配 DSC 熱分析、WAXD 廣角 X 射線衍射、TEM 透射電鏡、導(dǎo)電測(cè)試形成完整表征體系,質(zhì)譜作為快速初篩工具,無(wú)效樣品提前淘汰。
適配前沿缺陷工程/二維納米材料賽道:當(dāng)下導(dǎo)電高分子、二維有機(jī)片晶、精準(zhǔn)序列高分子、可加工共軛材料熱門(mén)方向,均存在大量難溶固體中間體,AIS ASAP-CMS 是少有的可直接固態(tài)進(jìn)樣臺(tái)式質(zhì)譜方案,適配微納電子、柔性傳感、有機(jī)半導(dǎo)體全鏈條研發(fā)。
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