產品描述：
泰克 80E10B、80E08B 和 80E04 電采樣模塊是雙通道時域反射計 （TDR） 采樣模塊，在 80E10B 中提供高達 12 ps 的入射和 15 ps 的反射上升時間（80E08B 中為 18 ps 入射，80E04 中為 23 ps 入射）。這些模塊的每個通道都能夠生成一個用于 TDR 模式的快速步長，采樣模塊的采集部分監控入射步長和任何反射能量。每個通道步進的極性可以獨立選擇。除了對隔離線路進行獨立測試外，還允許對兩條耦合線路進行差分或共模 TDR 或 S 參數測試。每個通道的獨立步長生成可實現真正的差分測量，從而確保差分器件的測量精度。
關鍵技術參數與性能優勢
1. 基礎性能參數
帶寬與上升時間：模塊帶寬高達 20GHz，可精準捕捉高頻信號細節；入射上升時間僅 12ps，反射上升時間為 23ps，能快速響應信號的瞬態變化，滿足高速信號（如 5G 通信、高速串行總線）的測試需求。
輸入阻抗與分辨率：輸入阻抗標準為 50±0.5Ω，阻抗分辨率小于 1mm，可精確檢測傳輸鏈路中的阻抗不連續點（如電纜接頭、PCB 板線缺陷等），為鏈路優化提供精準數據支撐。
通道配置：采用雙通道設計，支持同時對兩路高速信號進行采樣分析，大幅提升多通道設備（如服務器主板、通信基站模塊）的測試效率，減少測試流程耗時。
2. 獨特功能設計
真正差分測量能力：模塊具備真正差分測量功能，可直接對差分信號（如高速串行總線中的差分對）進行精準測試，無需額外搭建復雜的差分轉換電路，有效避免轉換過程中引入的信號干擾，確保測量結果的真實性與可靠性。
靈活的取樣方式：配備多種精密微波連接器，同時支持遠程取樣器選配。在測試大型設備或不便直接接觸的被測點時，遠程取樣器可貼近被測設備進行信號采集，減少信號傳輸過程中的衰減與失真，保障信號保真度。
獨立偏移校正功能：內置獨立的偏移校正模塊，可針對測試過程中使用的夾具、電纜等配件進行誤差補償（即夾具反嵌）。通過一鍵校正，能消除配件本身的阻抗影響，讓測試數據更貼近被測設備的真實性能，尤其在高頻段測試中，可顯著提升測量精度。
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