產品描述
Keithley 4200-SCS 是一款高性能半導體特性分析系統(tǒng),集成多種測量模塊,支持半導體器件的直流、交流及脈沖特性測試,適用于芯片研發(fā)、工藝驗證及質量控制,為半導體行業(yè)提供精準可靠的測試解決方案。
主要特點
測量模塊:集成源測量單元(SMU)、低噪聲前置放大器等,滿足多維度測試需求
電壓范圍:±10 μV 至 ±200 V,覆蓋寬量程電壓測量
電流范圍:±10 fA 至 ±1 A,支持微弱電流與大電流測試
測量精度:電流分辨率達 1 fA,電壓分辨率達 1 μV,確保測試準確性
測試功能:支持 IV 曲線、電容 - 電壓(CV)、擊穿電壓等半導體核心參數(shù)測試
操作軟件:配備 LabTracer 軟件,支持自動化測試與數(shù)據(jù)可視化分析
擴展能力:模塊化設計,可靈活添加測試模塊,適配不同測試場景
接口配置:支持 GPIB、LAN 接口,便于系統(tǒng)集成與遠程控制









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