IP 防護 試具 C（Test Probe C）應用詳解

一、基礎技術參數

1. 結構：剛性直金屬探針，頭部球形

2. 探針直徑：2.5 mm，長度 100mm

3. 標準試驗推力：3 ± 0.3 N

4. 內置導電金屬，外接導通指示器，判斷是否接觸危險帶電件 / 運動部件

5. 對應防護等級：IP3X；附加防護字母 IPXXC（防止工具觸及危險部件）

6. 

合格判定條件

核心含義：IP3X → 阻擋≥2.5mm 固體異物進入；防止螺絲刀、小型工具伸入觸碰危險件。

二、核心應用場景

1. IP3X 防塵等級型式試驗（第1位特征數字 = 3）

• 工業控制機箱、精密儀器外殼、變送器、傳感器殼體

• 小型開關電源、工控模塊、端子組件

• 戶內小型配電柜、儀表箱體、變頻器外殼

• 部分室內專業照明、舞臺燈具

• 弱電設備、通訊設備機殼

2. 附加字母試驗 IPXXC

3. 研發結構設計驗證

• 設備散熱格柵開孔、通風孔最大孔徑校核

• 殼體裝配縫隙、蓋板間隙、按鈕、接線口周邊間隙評估

• 端子倉、接線區域隔離結構驗證，避免螺絲刀伸入誤觸帶電體

4. 產線質檢、來料一致性抽檢

三、全套觸及試具橫向對比

四、標準試驗操作要點

1. 樣品維持正常使用裝配狀態，蓋板、門全部閉合；

2. 遍歷外殼所有位置：通風孔、格柵、拼接縫隙、觀察窗、旋鈕四周、接線孔；多角度試探；

3. 緩慢施加 3N 推力，僅依靠探針自重 + 標準推力，不得強行撐開縫隙；

4. 探針連接導通儀，觸碰危險件即判定不合格；

5. 試驗后外殼不允許產生變形。