IP 防護 試具 D（Test Probe D）完整應用說明

一、基礎技術參數

1. 結構：剛性直金屬探針，端頭球形

2. 探針直徑：1.0 mm，有效長度 100 mm

3. 標準試驗推力：1 ± 0.1 N

4. 探針為導電材質，配套導通測試儀，識別是否接觸危險帶電部件、運動零部件

5. 對應防護等級：IP4X；附加防護字母 IPXXD（防止細金屬線、細針觸及危險部件）

6. 

合格判定準則

IP4X 含義：阻擋直徑≥1.0mm 固體異物進入外殼；防止細鐵絲、細針、細導線伸入觸碰危險件。

二、核心應用場景

1. IP4X 型式試驗（第1位特征數字 = 4）

• 精密測量儀器、實驗室分析設備、傳感器變送器

• 高密度小型工控模塊、微型電源、通信設備

• 醫療電氣設備（GB 9706.1 有部分機型要求 IP4X 防護）

• 繼電器模組、小型端子組件、精密伺服驅動

• 部分室內專業視聽設備、精密光學設備外殼

2. 附加字母試驗 IPXXD

3. 研發結構驗證

• 設備通風格柵最大孔徑設計校核

• 殼體拼接縫隙、散熱孔、接線窗口、旋鈕周邊間隙評估

• 高密度電路板外殼隔離結構設計驗證，規避細小金屬異物伸入造成短路風險

4. 工廠質檢、成品抽檢

三、全套觸及試具匯總對比

四、標準試驗操作要點

1. 樣品保持正常裝配狀態，蓋板、檢修門全部閉合；

2. 全覆蓋測試：散熱格柵、殼體接縫、觀察窗、按鈕縫隙、接線孔、通風口；多角度傾斜試探；

3. 僅施加 1N 推力，禁止用力擠壓、撐開縫隙；強行擴縫測試結果無效；

4. 探針連接導通裝置，一旦觸碰危險導電部件判定不合格；

5. 試驗后外殼不能產生變形。