半導體寬溫絕緣電阻測試系統 參考價：250000
華測儀器SIR-450半導體寬溫絕緣電阻測試系統采用Huacepro智能軟件，符合功能材料的各項測試需求，具備穩定性與操作防護性，并具備斷電資料的保存功能，圖像...
半導體材料高低溫絕緣電阻率測試系統 參考價：250000
華測儀器SIR-450半導體材料高低溫絕緣電阻率測試系統環氧塑封料（EMC）對高功率半導體器件的高溫反向偏壓（HTRB）性能有重要控制作用，設備主要用于預測EM...
寬溫半導體絕緣性能測試設備 參考價：250000
華測儀器SIR-450寬溫半導體絕緣性能測試設備用于預測EMC的HTRB性能，環氧塑封料對高功率半導體器件的高溫反向偏壓（HTRB）性能有重要控制作用。
半導體材料寬溫域絕緣電阻測試系統 參考價：面議
華測儀器SIR-450半導體材料寬溫域絕緣電阻測試系統在電子產品中，電容器、電阻器、半導體器件等需要在不同溫度下進行試驗，以評估其性能和可靠性。
寬溫域絕緣電阻測試系統 參考價：250000
華測儀器SIR-450寬溫域絕緣電阻測試系統在電子產品中，電容器、電阻器、半導體器件等需要在不同溫度下進行試驗，以評估其性能和可靠性。
高低溫絕緣電阻測量系統 參考價：250000
華測儀器SIR-450高低溫絕緣電阻測量系統搭載軟件平臺Huace pro ，符合功能材料的各項測試需求，具備*的穩定性與操作防護性，并具備斷電資料的保存功能，...
半導體封裝材料 高低溫絕緣電阻測試系統 參考價：200000
半導體封裝材料 高低溫絕緣電阻測試系統高低溫環境下的絕緣電阻測試技術用于預測EMC的HTRB性能。電介質樣品暴露在高電場強度和高溫環境下。在這種情況下，高分子聚...
半導體封裝材料高溫絕緣電阻測試系統 參考價：面議
半導體封裝材料高溫絕緣電阻測試系統運用三電極法設計原理測量。利用新穎的電阻測試系統，重復性與穩定性更好，提升了夾具的抗干擾能力，同時大大提高精確度,可應用于產品...
半導體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統 參考價：面議
半導體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統華測儀器通過多年研究開發了一種可實現高的精度溫控，高屏蔽干擾信號的循環熱風加熱方式，在高速加熱及高速冷卻時，具有均勻的溫度分...
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