高電場介電常數與介質損耗綜合測試系統 參考價：400000
華測儀器Huace-DF500高電場介電常數與介質損耗綜合測試系統可以在任意電壓激勵下的介電響應測試根據需要自定義輸出任意電壓波形激勵，滿足對不同條件下不同絕緣...
絕緣材料漏電起痕測試儀 參考價：100000
華測儀器HCLD-2絕緣材料漏電起痕測試儀電痕化是指固體絕緣材料在電應力和電解雜質的聯合作用下，在表面（或內部）產生導電通道。
低壓相比電痕化指數測試儀 參考價：100000
華測儀器 HCLD-2低壓相比電痕化指數測試儀用以評價固體絕緣材料表面在電場和潮濕或污染介質聯合作用下的耐漏電性能，測定其相比電痕化指數 (CTI) 和耐電痕化...
固體絕緣材料低壓耐電痕測試裝置 參考價：100000
華測儀器HCLD-2固體絕緣材料低壓耐電痕測試裝置是根據耐漏電起痕試驗（電痕化指數試驗）的標準，規定的模擬仿真試驗項目。
多通道絕緣電阻離子遷移評估系統 參考價：400000
華測儀器多通道絕緣電阻離子遷移評估系統離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導致絕緣性能下降。
絕緣電阻劣化與離子遷移綜合評估系統 參考價：400000
華測儀器絕緣電阻劣化與離子遷移綜合評估系統，離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導致絕緣性能下降...
多通道絕緣電阻劣化評價系統 參考價：400000
華測儀器多通道絕緣電阻劣化評價系統是觀察線路是否有瞬間短路的現象發生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現象的影響。
全自動表面體積絕緣電阻檢測儀 參考價：20000
華測儀器Huace-300全自動表面體積絕緣電阻檢測儀采用低溫漂系數極低的電阻，既可測量高電阻，又可測微電流。
微電流高阻測量儀 參考價：20000
華測儀器Huace-300微電流高阻測量儀采用低溫漂系數極低的電阻，既可測量高電阻，又可測微電流。
絕緣材料表面體積電阻測定儀 參考價：20000
華測儀器Huace-300絕緣材料表面體積電阻測定儀采用低溫漂系數極低的電阻，既可測量高電阻，又可測微電流。
半導體寬溫絕緣電阻測試系統 參考價：250000
華測儀器SIR-450半導體寬溫絕緣電阻測試系統采用Huacepro智能軟件，符合功能材料的各項測試需求，具備穩定性與操作防護性，并具備斷電資料的保存功能，圖像...
半導體材料高低溫絕緣電阻率測試系統 參考價：250000
華測儀器SIR-450半導體材料高低溫絕緣電阻率測試系統環氧塑封料（EMC）對高功率半導體器件的高溫反向偏壓（HTRB）性能有重要控制作用，設備主要用于預測EM...
寬溫半導體絕緣性能測試設備 參考價：250000
華測儀器SIR-450寬溫半導體絕緣性能測試設備用于預測EMC的HTRB性能，環氧塑封料對高功率半導體器件的高溫反向偏壓（HTRB）性能有重要控制作用。
電力絕緣高溫電阻測試系統 參考價：150000
華測儀器Huace-800電力絕緣高溫電阻測試系統搭配Huacepro軟件，具備彈性的自定義功能，可進行電壓、電流、溫度、時間等設置，符合絕緣材料與其它新材料測...
高溫抗干擾絕緣電阻測試系統 參考價：150000
華測儀器Huace-800高溫抗干擾絕緣電阻測試系統符合絕緣材料與其它新材料測試多樣化的需求。
寬溫域三電極絕緣性能測試儀 參考價：150000
華測儀器Huace-800寬溫域三電極絕緣性能測試儀搭配Huacepro軟件，具備彈性的自定義功能，可進行電壓、電流、溫度、時間等設置。
防靜電材料電阻率綜合測試儀 參考價：面議
華測儀器Huace-991防靜電材料電阻率綜合測試儀該測試儀電流輸入端口采用大口徑BNC同軸連接器，偏差小，抗干擾性強，兼具防護性，配備穩定直流電源與電流采集系...
四電極法體積表面電阻率測定系統 參考價：60000
華測儀器Huace-991四電極法體積表面電阻率測定系統確定材料的體積電阻率ρv=Vwd/IL，可直接測量片狀、薄膜、板狀的產品以及其它導體、半導體材料的體積電...
導電防靜電材料體積電阻率綜合測定裝置 參考價：60000
華測儀器Huace-991導電防靜電材料體積電阻率綜合測定裝置確定材料的體積電阻率ρv=Vwd/IL，可直接測量片狀、薄膜、板狀的產品以及其它導體、半導體材料的...
真空氣氛型塞貝克電阻測試儀 參考價：400000
華測儀器HC-RD-1100真空氣氛型塞貝克電阻測試儀是一款簡單易用的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1200℃溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率。
Seebeck 系數及電阻率綜合測試儀 參考價：400000
華測儀器HC-RD-1100 Seebeck 系數及電阻率綜合測試儀是一款簡單易用的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1200℃溫度范圍內的塞貝克系數和電阻...
塞貝克系數與電阻率同步測量系統 參考價：400000
華測儀器HC-RD-1100塞貝克系數與電阻率同步測量系統是一款簡單易用的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1200℃溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率。
低熱電動勢多路電流擴展矩陣 參考價：200000
華測儀器HC-PAX低熱電動勢多路電流擴展矩陣可以構建出高通道數、微弱電流/高阻自動化測試系統，將單臺靜電計擴展為多通道測試系統，顯著提高設備利用率和測試效率。
絕緣材料多通道漏電流測試矩陣 參考價：200000
華測儀器HC-PAX絕緣材料多通道漏電流測試矩陣是為要求苛刻的微弱電流（低至皮安級）和中等電流（高達100mA）信號路徑切換而設計的組件。
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