研究級正置材料顯微鏡  型號：Axioscope

研究級正置材料顯微鏡 Axioscope系列適合于對數據質量和可重復性要求較高的檢測工作。

產品功能：可對晶粒尺寸、物相含量夾雜物以及膜層厚度進行測量等；能進行金相學、偏光成像，為材料科學提供完整解決方案。

研究級正置材料顯微鏡Axioscope核心參數：

光學系統：無限遠復消色差校正與反差增強型光學系統。

物鏡：5x、10x、20x、50x、100x，可選 1.25x、2.5x、40x、150x。

目鏡：10x/23。

觀察功能：反射光有明場、ADF 高級暗場、圓偏光、微分干涉、熒光。

物鏡轉盤：6孔。

應用案例：通過 C-DIC（圓偏光微分干涉襯度）觀察方式，可凸顯樣品表面如劃痕等微小浮凸結構（100um）。